[实用新型]一种芯片测试设备

权利要求书

1.一种芯片测试设备，其特征在于：包括机架，所述机架上固设有第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一测试平台、第二测试平台，所述第一循环换料装置与第二循环换料装置呈对角设置，所述第一测试平台与第二测试平台呈对角设置，所述第一机械臂与第二机械臂对称设置于机架的中部。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一循环换料装置与第一测试平台之间的位置设有第一角度调节机构，所述第二循环换料装置与第二测试平台之间的位置设有第二角度调节机构，所述第一角度调节机构与第二角度调节机构均用于对芯片的角度进行调整。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于：还包括固设于机架上的第一输送机构、第二输送机构，所述第一输送机构用于将第一角度调节机构上的芯片输送至第一测试平台，所述第二输送机构用于将第二角度调节机构上的芯片输送至第二测试平台。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一测试平台包括多个第一测试工位，所述第二测试平台包括多个第二测试工位，若干所述第一测试工位围绕第一测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第一测试平台的中心对称轴转动，若干所述第二测试工位围绕第二测试平台的中心对称设置且按照设定的节奏和设定角度围绕第二测试平台的中心对称轴转动，所述第一测试平台的第一测试工位与第二测试平台的第二测试工位的动作分别与所述第一循环换料装置、第二循环换料装置、第一机械臂、第二机械臂、第一角度调节机构、第二角度调节机构、第一输送机构、第二输送机构的动作相协调。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述第一循环换料装置包括包括框架、第一支撑板、第二支撑板、第一驱动机构、第二驱动机构、直线位移机构、吸附机构，所述第一驱动机构与第二驱动机构并列设置在框架上，所述第一驱动机构的输出端与第一支撑板相连，并用于驱动第一支撑板上下往复移动，所述第二驱动机构的输出端与第二支撑板相连，并用于驱动第二支撑板上下往复移动，所述直线位移机构固设于框架上，所述直线位移机构与吸附机构固定连接并用于驱使吸附机构在第一支撑板及第二支撑板之间移动，所述第二循环换料装置的结构与第一循环换料装置相同。

6.根据权利要求5所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述吸附机构包括固定板，所述固定板与直线位移机构固定连接，所述固定板的下方平行设有两个安装板，每个所述安装板的两端固定安装有一个吸盘固定柱，所述吸盘固定柱的底端固设有吸盘，所述固定板的上方安装有真空发生器。