[实用新型]一种大口径空间遥感相机网状陷阱式杂光抑制结构有效
| 申请号: | 202121642721.4 | 申请日: | 2021-07-19 |
| 公开(公告)号: | CN214896147U | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
| 发明(设计)人: | 刘星亮;陈超 | 申请(专利权)人: | 天辅高分(北京)科技有限公司 |
| 主分类号: | G03B11/04 | 分类号: | G03B11/04;G03B30/00 |
| 代理公司: | 北京东岩跃扬知识产权代理事务所(普通合伙) 11559 | 代理人: | 王玉鹏 |
| 地址: | 100025 北京市朝阳区高碑店乡八*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 口径 空间 遥感 相机 网状 陷阱 式杂光 抑制 结构 | ||
本实用新型公开了一种大口径空间遥感相机网状陷阱式杂光抑制结构,包括设置于相机光学系统开口处的遮光罩,所述遮光罩为侧剖面形状为等腰梯形的圆筒状结构,所述遮光罩的内壁上依次固定设有多个片状的挡光环,所述挡光环与所述遮光罩的两个端面平行布置,且相邻的两个所述挡光环之间填充设有陷阱结构,所述陷阱结构内均匀密布有网格状的挡光面。本实用新型,采用网状陷阱式挡光环来抑制杂光,既能显著提升遮光罩的杂散光抑制效率,又能有效加强大口径遮光罩的刚度。
技术领域
本实用新型涉及杂光抑制技术,具体涉及一种大口径空间遥感相机网状陷阱式杂光抑制结构。
背景技术
杂光的概念笼统地说就是光学系统中除了成像光线外,扩散于像面上的其它非成像光线。它包括来自系统外部的辐射源(如阳光、地气光等)和内部辐射源(如光学元件、结构件等)以及散射表面的非成像光能量。其危害是:降低像面对比度和调制传递函数、使整个画面的层次减少、清晰度变坏、严重时会形成杂光斑点。
杂光技术目前已经发展成为分支繁多、涉及多学科的一门综合技术。其关键技术可归纳为:系统杂光测试、散射理论、材料研究、BRDF设备与测量、分析软件、抑制设计、污染效应。
国内对于杂光的研究可以说刚刚起步,与国外相比差距甚远。但可喜的是,也有许多尝试性的工作已经开始,如用有限元法计算星载相机遮光罩的专用程序,用蒙特卡洛方法进行星载扫描仪杂光分析的程序,光学系统鬼像分析程序(GHOSIVI.0)等。这些工作说明中国光学界已经从单纯讨论杂光问题的重要性转而向进行试验与分析迈进,并取得了一定的成绩。
随着“高分辨率对地观测系统”国家重大专项的陆续实施,空间光学遥感技术获得突飞猛进的发展。光学遥感的首要目标是获得高质量的图像。杂散光是影响光学遥感器成像质量的主要因素之一,它一方面会降低像面的对比度及光学信噪比,另一方面又可能形成眩光甚至非正常像,在强光背景下甚至可能使目标信号完全被杂散辐射噪声所淹没,更有甚者对探测器造成损伤。因此,空间遥感相机必须开展杂散光抑制设计与分析。
相机杂散光来源主要包括两类:外杂光和内杂光。外杂光主要是指外部辐射源,包括视场外的太阳光、地气辐射等经光机结构的散射形成的杂散光,其中还包括光学元件表面的多次反射形成的杂散光(即鬼像);内杂光是指光机结构的自发辐射直接或经光机结构散射到达像面形成的杂散光。
抑制大离轴角的光线直接进入相机最直接的方法就是在相机光学系统开口处加具有高吸收能力的遮光罩。遮光罩越长,杂散光吸收越多,进入光学系统的杂散光就越少。但是遮光罩过长会增加相机的空间和重量,因此需合理选择遮光罩的尺寸。
由于航天器工作环境复杂,需要适应地面存储、发射入轨和在轨运行几个阶段,而大口径光学遥感相机尺寸大,遮光罩的口径也随之增大,而较大的遮光罩对环境的适应能力下降,就必须考虑其结构刚度,以满足大尺寸遮光罩的可靠性。
但是现有常用遮光罩结构技术的缺点
1、由于普通挡光环遮光罩仅能抑制两个方向的杂光散射,即沿光轴方向的杂散光,对于与光轴呈一定角度的杂散光抑制效果较差。
2、传统遮光罩为内壁光滑的圆筒,当其结构尺寸较大时,刚度不够容易变形,所以需要考虑加固设计。
综上所述,目前需要设计一种既能显著提升遮光罩的杂散光抑制效率,又能有效加强大口径遮光罩的刚度。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是现有的普通遮光罩对杂散光抑制效果较差、结构强度低的问题。
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