[实用新型]一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台有效

专利信息
申请号: 202121641219.1 申请日: 2021-07-19
公开(公告)号: CN215037195U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 李良彬 申请(专利权)人: 深圳市天海检测技术有限公司
主分类号: B25H1/00 分类号: B25H1/00;B25H1/08
代理公司: 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 44540 代理人: 蔡星
地址: 518000 广东省深圳市龙华区福城街道章阁社区章阁路66号125-126(在深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体激光器 测试 便于 调节 平台
【权利要求书】:

1.一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,包括测试台(1)和防护盖(2),其特征在于,所述测试台(1)通过铰链(3)与防护盖(2)相连接,且所述测试台(1)外部一周设置有软胶套(4),所述测试台(1)内部开设有滑槽(5),且所述滑槽(5)内部安装有调节组件(6),所述调节组件(6)包括支撑台(601)、阻尼转轴(602)和支臂(603),所述支撑台(601)顶部安装有所述阻尼转轴(602),且所述阻尼转轴(602)外部设置有所述支臂(603),所述测试台(1)中部开设有插槽(14),且所述插槽(14)内部卡合连接有挡板(15)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述软胶套(4)与所述测试台(1)之间呈卡合连接,且所述软胶套(4)的内表面与所述测试台(1)的外表面相互贴合。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述支撑台(601)与所述滑槽(5)之间呈滑动连接,且所述支撑台(601)与所述滑槽(5)均设置有两组。

4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述支臂(603)与所述支撑台(601)之间呈活动连接,且所述支臂(603)呈L状结构。

5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述支臂(603)的外端连接有转动轴(7),且所述转动轴(7)外部设置有装夹座(8),所述装夹座(8)内壁开设有衔接槽(9),且所述衔接槽(9)内部安装有复位弹簧(10),所述复位弹簧(10)另一端连接有夹持组件(11)。

6.根据权利要求5所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述夹持组件(11)包括夹持块(1101)、伸缩弹簧(1102)和限位条(1103),所述夹持块(1101)内部安装有所述伸缩弹簧(1102),且所述伸缩弹簧(1102)另一端连接有所述限位条(1103)。

7.根据权利要求6所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述限位条(1103)与所述夹持块(1101)之间呈活动连接,且所述限位条(1103)关于所述夹持块(1101)表面呈矩阵状分布。

8.根据权利要求6所述的一种半导体激光器测试用便于装夹调节的测试平台,其特征在于,所述夹持块(1101)顶部安装有支架(12),且支架(12)内侧连接有电动伸缩杆(13)。

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