[实用新型]一种双顶尖外径检测装置有效
| 申请号： | 202121539138.0 | 申请日： | 2021-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN215296186U | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 赵宇锋;丁金利;王小永 | 申请（专利权）人： | 绍兴安迪自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/10 |
| 代理公司： | 绍兴市知衡专利代理事务所(普通合伙) 33277 | 代理人： | 沈佳迎 |
| 地址： | 312400 浙江省绍兴市嵊州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 顶尖 外径 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种双顶尖外径检测装置，其特征在于：包括
夹具，夹具对轴类产品两端进行夹持并使其旋转，
探测头，探测头贴靠轴类产品侧边，沿轴类产品轴向移动的同时，受轴类产品径向变化进行位移，并将位移变化通过位移传感器测取；
探测头只移动检测轴类产品的一侧时，用于连续测量轴类产品的轴跳动度；
探测头同步移动检测轴类产品两侧时，用于连续测量轴类产品外径。
2.根据权利要求1所述的一种双顶尖外径检测装置，其特征在于：探测头设置于径向移动座上，径向移动座设置于轴向移动座上，径向移动座和轴向移动座之间设置有位移传感器，位移传感器用于检测径向移动座相对于轴向移动座之间的相对位移。
3.根据权利要求1所述的一种双顶尖外径检测装置，其特征在于：探测头与传动轴的接触端设置有滚柱，滚柱滚动方向与传动轴的轴向一致。
4.根据权利要求2所述的一种双顶尖外径检测装置，其特征在于：位移传感器为回弹式位移传感器。
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