[实用新型]一种用于电子元器件测试的通用测试座有效
申请号: | 202121466606.6 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN215066844U | 公开(公告)日: | 2021-12-07 |
发明(设计)人: | 云惟耀 | 申请(专利权)人: | 深圳市天易成科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市科冠知识产权代理有限公司 44355 | 代理人: | 王海骏 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 电子元器件 测试 通用 | ||
1.一种用于电子元器件测试的通用测试座,包括底座(1),所述底座(1)内壁后侧设置有一端与其内壁前侧活动连接的驱动组件(2),其特征在于:所述底座(1)内壁底部且位于驱动组件(2)左右两侧均设置有一端与驱动组件(2)活动连接且延伸至底座(1)顶部的调节组件(3),所述底座(1)顶部且位于两个调节组件(3)之间设置有数量为两个且一端与调节组件(3)固定连接的夹持组件(4)。
2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件测试的通用测试座,其特征在于:所述驱动组件(2)包括伺服电机(21),所述底座(1)内壁后侧固定安装有伺服电机(21),所述伺服电机(21)的输出轴固定安装有主齿轮(22),所述底座(1)内壁前后两侧之间且位于伺服电机(21)左右两侧均活动安装有转轴(23),所述转轴(23)外侧固定安装有收卷轮(24),所述转轴(23)外侧且位于收卷轮(24)后侧固定安装有与主齿轮(22)啮合的副齿轮(25)。
3.根据权利要求2所述的一种用于电子元器件测试的通用测试座,其特征在于:所述调节组件(3)包括移动杆(31),所述底座(1)内壁底部且位于两个副齿轮(25)相背一侧均活动安装有一端延伸至底座(1)顶部的移动杆(31),两个所述收卷轮(24)外侧均缠绕有一端分别与两个移动杆(31)相对一侧固定连接的拉绳(32),所述底座(1)内壁左右两侧均固定安装有一端贯穿移动杆(31)的限位杆(33),所述底座(1)内壁左右两侧且位于限位杆(33)上方均固定安装有分别与两个移动杆(31)相背一侧固定连接的调节弹簧(34)。
4.根据权利要求3所述的一种用于电子元器件测试的通用测试座,其特征在于:所述夹持组件(4)包括固定杆(41),所述底座(1)顶部固定安装有数量为两个且位于两个移动杆(31)之间的固定杆(41),两个所述固定杆(41)呈左右对称分布,两个所述移动杆(31)相对一侧均固定安装有数量为两个且一端贯穿固定杆(41)的连接杆(42),单个所述移动杆(31)上的两个连接杆(42)呈上下对称分布,顶部两个所述连接杆(42)相对一侧均固定安装有一端与底部两个连接杆(42)相对一侧固定连接的夹持块(43),两个所述固定杆(41)相对一侧且位于上下两侧连接杆(42)之间均固定安装有套筒(44),两个所述套筒(44)内部均活动安装有一端延伸至两个套筒(44)相对一侧并与两个夹持块(43)相背一侧固定连接的活动块(45),两个所述活动块(45)相背一侧均固定安装有一端与套筒(44)内壁固定连接的夹持弹簧(46)。
5.根据权利要求3所述的一种用于电子元器件测试的通用测试座,其特征在于:所述底座(1)内部为中空设计,底座(1)内壁底部开设有与移动杆(31)移动轨迹相适配的移动槽,底座(1)内壁顶部开设有与移动杆(31)移动轨迹相适配的通孔。
6.根据权利要求4所述的一种用于电子元器件测试的通用测试座,其特征在于:所述套筒(44)内壁上下两侧均开设有活动槽,活动槽的大小与活动块(45)的移动轨迹相适配。
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