[实用新型]一种测试探针弯针装置

说明书

本实用新型公开一种测试探针弯针装置，包括底板，底板上设有夹持组件和弯折组件，其中：夹持组件包括，从上到下依次设置的夹持手、第一承载板和第一滑板，弯折组件包括，从上到下依次设置的压板、第二承载板、第二滑板，压板朝向夹持组件的一侧设有倾角，第二承载板通过轴承固定在底板上。本实用新型通过通过设置夹持组件和弯折组件，可以对探针夹持固定后进行弯针，且夹持组件的两个夹持手之间的间距可以通过第一伸缩杆来调整，可以对不同粗细不同型号的探针进行夹持，弯折组件的第二承载板可以通过第二伸缩杆在第二滑板和第二滑块上滑动，可以调整压板与夹持手之间的距离，使得可以适用于更多的不同型号的探针，十分方便。

技术领域

本实用新型涉及探针加工技术领域，尤其涉及一种测试探针弯针装置。

背景技术

探针广泛用于检查形成于包括液晶显示装置(Liquid Crystal Display，LCD)、等离子显示面板(Plasma Display Panel，PDP)的平板显示装置或晶圆上的半导体元件的性能，其一般装载在探针卡上使用。制作探针卡使用的探针需弯曲一定角度。现有弯针装置往往直接将探针插进槽口，随意弯折一个角度，弯曲结果不够精确。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试探针弯针装置。

为实现上述目的，采用以下技术方案：

一种测试探针弯针装置，包括底板，所述底板上设有夹持组件和弯折组件，其中：所述夹持组件包括，从上到下依次设置的夹持手、第一承载板和第一滑板，所述夹持手有两个，其用于夹持的一端朝向所述弯折组件，另一端设有用于调整两个所述夹持手之间的间距的第一伸缩杆；所述承载板有两个，分别固定于两个所述夹持手底部，所述承载板的底部设有滑槽，第一滑板上与所述承载板的滑槽相配合的第一滑块；所述弯折组件包括，从上到下依次设置的压板、第二承载板、第二滑板，所述压板朝向所述夹持组件的一侧设有倾角，所述第二承载板固定在所述压板的底部，所述第二承载板的底部设有滑槽，所述第二滑板上固定有与所述第二承载板的滑槽相配合的第二滑块，所述第二承载板的一端设有用于驱动所述第二承载板在所述第二滑块上移动的第二伸缩杆，所述第二滑板朝向所述夹持组件的一端连接有轴承，所述轴承固定在底板上。

进一步的，两个所述夹持手上分别固定有固定块，所述两个固定块分别与所述第一伸缩杆固定，所述第一伸缩杆的伸缩端固定在其中一个所述固定块上，所述第一伸缩杆还与另一个所述固定块固定。当控制第一伸缩杆伸缩时，其可以带动两个夹持手靠近或分离，用于控制两个夹持手夹持紧探针。

进一步的，所述第一伸缩杆为千分尺。千分尺具有伸缩功能，可以带动两个夹持手靠近或分离，同时，由于千分尺具有测量功能，对于不同尺寸的探针，可以采用预设的标准伸缩量，使得探针弯针的过程标准化、效率化。

进一步的，所述第二滑块呈L形状，其一端位于所述第二承载板的滑槽内，另一端固定所述第二伸缩杆，所述第二伸缩杆的伸缩端与所述第二承载连接。当控制第二伸缩杆伸缩时，由于第二滑块固定在第二滑板上，故第二伸缩杆可以推动第二承载板移动，进而可以控制压板与夹持组件之间的距离，使得可以控制探针弯折长度。

进一步的，所述第二伸缩杆为千分尺。千分尺具有伸缩功能，可以带动第二承载板移动，同时，由于千分尺具有测量功能，对于不同尺寸的探针，可以采用预设的标准伸缩量，使得探针弯针的过程标准化、效率化。

进一步的，所述第二滑板远离所述夹持组件的一端设有把手。当对探针弯折时，需要推动第二滑板绕着轴承移动，设置一把手可以起到省力的作用。

进一步的，所述第一滑板的两侧设有的第一限位板，所述第一限位板固定在所述底板上，所述第一限位板上设有第一通槽，所述第一滑板的两侧通过螺孔连接有第一螺栓，所述第一螺栓穿过所述第一通槽。当旋钮松开第一螺栓时，可以移动第一滑板在底板上位置，当旋钮紧第一螺栓时，可以将第一滑板固定在底板上。