[实用新型]极片质量检测数据投影装置有效

专利信息
申请号: 202121423200.X 申请日: 2021-06-25
公开(公告)号: CN215529175U 公开(公告)日: 2022-01-14
发明(设计)人: 罗春秀 申请(专利权)人: 罗春秀
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31;H01M4/02
代理公司: 上海未可期专利代理事务所(普通合伙) 31360 代理人: 刘宏博
地址: 213000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 质量 检测 数据 投影 装置
【权利要求书】:

1.一种极片质量检测数据投影装置,其特征在于,包含:处理模块与投影模块;

所述处理模块与外部的产品相连,用于对所述产品进行测试;

所述处理模块包含加工组件与若干个第一测试仪,所述若干个第一测试仪与所述加工组件相连,用于对所述产品进行测试,所述加工组件与所述投影模块相连,用于汇总检测数据并对所述产品进行加工;

所述投影模块与所述处理模块相连,用于显示所述处理模块测试数据;

所述投影模块包含若干个投影器,所述若干个投影器与所述处理模块相连。

2.如权利要求1所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块还包含:第一控制器,所述第一控制器与所述加工组件电性连接。

3.如权利要求1所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块还包含:第一打标机,所述第一打标机与所述若干个第一测试仪电性连接,用于标记测试超标的所述产品。

4.如权利要求1所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块包含:若干个第二测试仪,所述若干个第二测试仪分别与所述投影模块相连,用于测试所述产品的品质。

5.如权利要求4所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块还包含:第二打标机,所述第二打标机分别与所述若干个第二测试仪电性连接,用于标记测试超标的所述产品。

6.如权利要求4所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块还包含:信号处理器,所述信号处理器将所述若干个第二测试仪与所述投影模块电性连接。

7.如权利要求6所述极片质量检测数据投影装置,其特征在于,所述处理模块还包含:第二控制器,所述第二控制器与所述信号处理器电性连接,用于控制所述信号处理器。

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