[实用新型]一种方便分拣的集成电路芯片测试机

说明书

本实用新型公开了一种方便分拣的集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座的下端四角均固定连接有支撑柱，所述支撑架的上端前部与上端后部均开有滑槽，所述支撑架的右端上部固定连接有移动装置，所述移动装置的下端固定连接有分拣装置，所述底座的上端中部固定连接有检测板，所述检测板的上端中部固定连接有若干个探针母板，所述检测板的前端与后端均固定连接有稳固板，两个所述稳固板的前端与后端均固定连接有夹持装置，所述底座的前端右部固定连接有控制箱。本实用新型所述的一种方便分拣的集成电路芯片测试机，通过设置移动装置与分拣装置，避免了人工检测，自动化程度高，操作简单，且实用。

技术领域

本实用新型涉及集成电路芯片设备领域，特别涉及一种方便分拣的集成电路芯片测试机。

背景技术

集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，目前许多芯片在出厂时需要进行测试，基于FPGA对集成电路芯片件测试是常用到的一种测试方式之一，集成电路的好坏检测：集成电路的好坏可以检测引脚电阻值、引脚电压值和引脚波形等相关的参量，引脚电阻值可以反映集成电路是否损坏的检测参量之一，集成电路引脚电阻值可以外为在线电阻值和非在线电阻值，1、目前集成电路芯片测试机一般是通过人工将集成芯片与测试机上的FPGA板卡连接，自动化程度较低；2、现有的集成电路芯片测试机，无法将测试合格与测试不合格的的芯片进行有效分拣，容易混乱，降低集成电路芯片的工作效率；故此，我们提出一种新型的方便分拣的集成电路芯片测试机。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种方便分拣的集成电路芯片测试机，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种方便分拣的集成电路芯片测试机，包括底座，所述底座的下端四角均固定连接有支撑柱，所述底座的上端传动连接有传送带，所述底座的上端固定连接有支撑架，所述支撑架的上端前部与上端后部均开有滑槽，所述支撑架的右端上部固定连接有移动装置，所述移动装置的下端固定连接有分拣装置，所述底座的上端中部固定连接有检测板，所述检测板的上端中部固定连接有若干个探针母板，所述检测板的前端与后端均固定连接有稳固板，两个所述稳固板的前端与后端均固定连接有夹持装置，所述底座的前端右部固定连接有控制箱。

优选的，所述移动装置包括驱动器，所述驱动器的输出端贯穿支撑架并固定连接有螺杆，所述螺杆的外表面活动连接有推板，所述推板的上端前部与上端后部均固定连接有滑板，所述推板的前端上部与后端上部均固定连接有固定帽，所述推板的左端开有凹槽，所述驱动器固定连接在支撑架的右端上部。

优选的，所述分拣装置包括固定板与气缸，所述气缸的输出端依次贯穿推板和固定板并固定连接有圆盘，所述圆盘的下端固定连接有若干个吸盘，所述固定板的上端左部固定连接右端打码机，所述固定板固定连接在推板的下端。

优选的，所述夹持装置包括伸缩控制器，所述伸缩控制器的输出端贯穿稳固板并固定连接有夹盘，所述夹盘的后端固定连接有若干个硅胶球，所述伸缩控制器固定连接在稳固板的前端中部。

优选的，两个所述伸缩控制器与控制箱电性连接，若干个所述硅胶球呈环形阵列，所述夹盘呈前后对称分布，且均不与检测板的上端面碰触。

优选的，所述驱动器与控制箱电性连接，两个所述滑板分别滑动连接在两个滑槽内。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：