[实用新型]半导体探针外观AOI检测设备的上料机构

权利要求书

1.半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，包括一号输送台(1)，其特征在于：所述一号输送台(1)下端表面设置有工作台(10)，所述一号输送台(1)两侧表面的下方设置有滑板(12)，所述滑板(12)的上端表面的前方设置有一号通孔(14)，所述工作台(10)的上端表面与一号输送台(1)的两侧连接处设置有固定板(11)，所述固定板(11)的上端表面设置有二号通孔(15)，所述二号通孔(15)内设置有固定销(13)，所述固定板(11)的内部设置有固定槽(17)，所述固定槽(17)内位于二号通孔(15)的正下方设置有固定孔(16)。

2.根据权利要求1所述的半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，其特征在于：所述滑板(12)与一号输送台(1)的左右两侧表面之间为固定连接，所述滑板(12)位于固定槽(17)内，所述滑板(12)与固定槽(17)之间为活动连接，所述固定销(13)的下端端口穿过一号通孔(14)和二号通孔(15)位于固定孔(16)内，所述固定销(13)与固定板(11)以及滑板(12)之间均为活动连接。

3.根据权利要求1所述的半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，其特征在于：所述一号通孔(14)贯穿滑板(12)，所述二号通孔(15)贯穿固定板(11)的上端与固定槽(17)连通，所述固定孔(16)嵌于工作台(10)的上端表面，所述固定槽(17)与滑板(12)的端口截面相同，所述固定板(11)长度大于滑板(12)。

4.根据权利要求1所述的半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，其特征在于：所述一号输送台(1)的上端设置有移动放置台(4)，所述移动放置台(4)的上端表面的中部设置有放置槽(6)，所述放置槽(6)的内部设置有活动口(7)，所述移动放置台(4)的内部的底面设置有液压缸(18)，所述液压缸(18)的上端端口设置有活塞杆(19)，所述移动放置台(4)的左侧表面设置有液压管(20)。

5.根据权利要求4所述的半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，其特征在于：所述活塞杆(19)的上端端口延伸至活动口(7)内，所述活塞杆(19)的下端延伸至液压缸(18)的内部，所述液压管(20)延伸至移动放置台(4)的内部与液压缸(18)相连，所述液压缸(18)为微型伸缩式。

6.根据权利要求4所述的半导体探针外观AOI检测设备的上料机构，其特征在于：所述移动放置台(4)的上端表面的拐角处设置有限位块(5)，所述放置槽(6)的底部表面设置有补光灯(8)，所述补光灯(8)为小型LED灯，所述一号输送台(1)的前端设置有驱动结构(3)，所述一号输送台(1)中部的放置槽(6)内设置有探针检测盘(9)，所述一号输送台(1)的右侧位于工作台(10)的表面设置有二号输送台(2)，所述一号输送台(1)与二号输送台(2)的所有结构相同。