[实用新型]一种电子元器件移动测试装置

权利要求书

1.一种电子元器件移动测试装置，包括设备本体(1)，其特征在于：所述设备本体(1)的顶部活动连接有输送带(2)，所述设备本体(1)的顶部固定连接有框板(3)，所述框板(3)的内壁固定连接有挡板(4)，所述挡板(4)的顶部固定连接有支撑杆(5)，所述支撑杆(5)的外表面滑动套接有升降板(6)，所述框板(3)的内壁固定安装有液压杆(7)，所述升降板(6)靠近挡板(4)的一侧固定连接有框架(8)，所述框架(8)的内部固定安装有测试器(9)，所述设备本体(1)远离框板(3)的一侧固定连接有支撑柱(10)，所述支撑柱(10)远离设备本体(1)的一侧固定连接有底盘(11)，所述框架(8)开进升降板(6)的一侧固定连接有第一固定板(12)，所述框架(8)靠近第一固定板(12)的一侧固定连接有第二固定板(13)，所述升降板(6)的顶部固定连接有连接板(14)，所述连接板(14)的内部滑动贯穿有第一卡板(15)，所述连接板(14)的内部滑动贯穿有第二卡板(16)，所述第一卡板(15)靠近连接板(14)的一侧固定连接有第一限位板(17)，所述第一限位板(17)远离第一卡板(15)的一侧设置有母磁铁板(18)，所述第二卡板(16)靠近连接板(14)的一侧固定连接有第二限位板(19)，所述第二限位板(19)远离第二卡板(16)的一侧设置有子磁铁板(20)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件移动测试装置，其特征在于：所述支撑杆(5)远离挡板(4)的一端固定连接在框板(3)内壁的顶面。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件移动测试装置，其特征在于：所述液压杆(7)的输出端固定连接在升降板(6)的顶部。

4.根据权利要求1所述的一种电子元器件移动测试装置，其特征在于：所述升降板(6)的底部开设有与第一固定板(12)相适配的第一穿槽，且升降板(6)的底部开设有与第二固定板(13)相适配的第二穿槽。

5.根据权利要求1所述的一种电子元器件移动测试装置，其特征在于：所述第一固定板(12)的左侧开设有与第一卡板(15)相适配的第一卡槽，所述第二固定板(13)的右侧开设有与第二卡板(16)相适配的第二卡槽。

6.根据权利要求1所述的一种电子元器件移动测试装置，其特征在于：所述连接板(14)的内部开设有与第一限位板(17)相适配的限位槽，所述母磁铁板(18)与子磁铁板(20)的同磁极相对。