[实用新型]一种基于BIM的测绘放样装置

权利要求书

1.一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述装置包括：

支撑基座；

角度调节基座，所述角度调节基座设置于所述支撑基座上，所述角度调节基座用于承载固定测绘仪；

调节机构，所述调节机构设置于所述支撑基座上，所述调节机构用于调节所述装置的高度和水平度；

固定吸盘，所述固定吸盘设置于所述支撑基座正下方；以及

伸缩连接机构，所述伸缩连接机构一端与所述固定吸盘连通，所述伸缩连接机构另一端与所述支撑基座固定。

2.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述角度调节基座包括：

转动轴，所述转动轴转动设置于所述支撑基座上，所述转动轴与所述支撑基座具有阻尼；以及

固定座，所述固定座固定于所述转动轴远离所述支撑基座一端。

3.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述伸缩连接机构包括：

连接柱，所述连接柱固定于所述支撑基座上；

阀芯，所述阀芯固定于所述连接柱远离所述支撑基座一端，所述阀芯外径大于所述连接柱；

支撑套，所述支撑套与所述阀芯滑动连接，所述支撑套远离所述连接柱一端与所述固定吸盘连通；以及

限位吸附组件，所述限位吸附组件固定于所述支撑套内，所述限位吸附组件位于所述支撑套远离所述阀芯一端；

所述支撑套位于所述阀芯一侧设置有泄压口。

4.根据权利要求3所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述限位吸附组件包括：

支撑杆，所述支撑杆固定于所述支撑套远离所述阀芯一端；

定位块，所述定位块固定于所述支撑杆靠近所述阀芯一侧；以及

第二吸附磁铁，所述第二吸附磁铁固定于所述支撑杆外侧；

所述阀芯设置有与所述定位块配合的定位槽，所述定位槽内设置有与所述第二吸附磁铁配合的第一吸附磁铁。

5.根据权利要求1所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述调节机构包括：

连接杆，所述连接杆均匀布设于所述支撑基座上；

长度调节组件，所述长度调节组件一端与所述连接杆铰接；以及

支撑脚，所述支撑脚与所述长度调节组件远离所述连接杆的一端铰接。

6.根据权利要求5所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述长度调节组件包括：

滑杆，所述滑杆与所述连接杆铰接；

滑套，所述滑套与所述滑杆滑动连接，所述滑套远离所述滑杆的一端与所述支撑脚滑动连接；以及

紧固件，所述紧固件用于固定所述滑套和所述滑杆。

7.根据权利要求5所述的一种基于BIM的测绘放样装置，其特征在于，所述支撑脚固定连接有防滑垫。