[实用新型]一种比特单元和数据解析单元有效
| 申请号: | 202121311775.2 | 申请日: | 2021-06-11 |
| 公开(公告)号: | CN215730881U | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
| 发明(设计)人: | 杨展悌;苏炳熏;叶甜春;罗军;赵杰;王云 | 申请(专利权)人: | 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;澳芯集成电路技术(广东)有限公司 |
| 主分类号: | G11C16/34 | 分类号: | G11C16/34 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆宗力 |
| 地址: | 510535 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 比特 单元 数据 解析 | ||
本申请提供一种比特单元和数据解析单元。在该比特单元中,两个反向器首尾相连构成闩锁结构、闩锁结构通过开关模块与数据传输线建立连接、开关模块受控于字线,从而可以实现数据的写入和读取;另外,由于反向器和开关模块均包括MOS管,并且有至少一个MOS管为FDSOI‑MOS管,所以使得该比特单元在实际运行过程中的漏电流得到减少,从而降低了漏电流对自身运行造成的影响;还有,采用FDSOI‑MOS管后,由于FDSOI‑MOS管具有极小的阈值电压的变化性,即具有更好的阈值电压的均匀性,进而有利于与该比特单元相对应的数字集成电路的时序收敛。
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,特别是涉及一种比特单元和数据解析单元。
背景技术
在任何新的工艺上,开发存储器的比特单元是最前期也是最重要的工作之一,只有这样才能使得此工艺具有数据存储的能力。在各种不同比特单元中,高密度比特单元是最重要的,比如在高度集成的芯片中,占了整个芯片面积的30%~60%左右的高密度比特单元可以直接影响芯片的性能。
目前,现有技术中有一种比特单元,在实际运行过程中,其自身存在较高的漏电流,从而对自身的运行造成影响。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提供了一种比特单元和数据解析单元,以减少在实际运行过程中,比特单元自身漏电流对自身运行所造成的影响。
为实现上述目的,本实用新型实施例提供如下技术方案:
本申请一方面提供一种比特单元,包括:开关模块和两个反向器;其中:
两个所述反向器首尾相连,组成闩锁结构,所述闩锁结构通过所述开关模块与数据传输线建立连接;所述开关模块受控于字线;
所述反向器和所述开关模块均包括MOS管,至少一个MOS管为FDSOI-MOS管。
可选的,所述FDSOI-MOS管,还设置有:体偏压连接极;所述体偏压连接极与电压产生器相连。
可选的,所述体偏压连接极接收到正电压或负电压,以形成正向偏压或者反向偏压。
可选的,若所述数据传输线为:位线,则所述开关模块,包括:第一MOS管:其中:
所述第一MOS管为NMOS管;
所述第一MOS管的栅极与所述字线相连,所述第一MOS管的源极与所述闩锁结构的任一连接点相连,所述第一MOS管的漏极与所述位线相连。
可选的,所述反向器,包括:第二MOS管和第三MOS管;其中:
所述第二MOS管为PMOS管,所述第三MOS管为NMOS管;
所述第二MOS管和所述第三MOS管共栅极连接,连接点作为所述反向器的输入端;
所述第二MOS管和所述第三MOS管共漏极连接,连接点作为所述反向器的输出端;
所述第二MOS管的源极与工作电源相连,所述第三MOS管的源极与公共地相连。
本申请另一方面提供一种数据解析单元,包括:数据解析模块和如本申请上一方面任一项所述的比特单元;其中:
所述数据解析模块的输入端与所述比特单元中的数据传输线相连,所述数据解析模块的输出端输出所述比特单元的保存数据;所述保存数据是对所述数据传输线的电压进行解析得到的。
可选的,若所述比特单元的数据传输线为:位线,则所述数据解析模块的一个输入端接收基准电压、另一个输入端与所述位线相连;所述基准电压为所述比特单元的额定电压的一半。
可选的,所述数据解析模块为感测放大器;其中:
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