[实用新型]一种用于Seebeck系数测试探针

说明书

本实用新型涉及一种用于Seebeck系数测试探针，包括热探笔本体和冷探笔本体，所述冷探笔本体的外侧设置有绝缘块，绝缘块与热探笔本体的外侧之间设置有康铜丝，所述热探笔本体上设置有加热丝，所述热探笔本体包括热探笔安装板、固定连接在热探笔安装板左侧的第一压紧弹簧、固定连接在第一压紧弹簧左端的热探笔外壳、设置在热探笔外壳内侧的加热器、固定安装在加热器右侧的热电偶、插接在加热器内侧的热探笔探头，以及固定安装在热探笔安装板上的热探笔安装轴。该用于Seebeck系数测试探针，通过采集第一纯铜丝和第二纯铜丝之间的电压，第一纯铜丝与第三纯铜丝之间的电压，并且常温下的Seebeck系数已知，则可以根据公式快速计算出被测样品的Seebeck系数。

技术领域

本实用新型涉及Seebeck系数测试技术领域。

背景技术

德国科学家Seeback发现，当两种金属接点之间存在温差时，回路中有持续的电流流动，这种现象称为Seeback效应，Seebeck系数可用来表征Seeback效应的大小，Seebeck系数是反应材料热电性能的重要参数，快速、准确测量Seebeck系数对评估材料热电性能具有很大意义。

Seebeck系数测试一般使用热电偶作为探针，用来测量接触点温度和电势差，但在具体测量过程中还需要另外的装置一端加热来形成温差，这给测试设备的设计增加了难度，使系统更加复杂，需要有简单实用的测试探针来对Seebeck系数进行测量。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术中存在的技术问题，提供一种用于Seebeck系数测试探针，解决了Seebeck系数测试探针需要给一端加热形成温差较为复杂问题。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：一种用于Seebeck系数测试探针，包括热探笔本体和冷探笔本体，所述冷探笔本体的外侧设置有绝缘块，绝缘块与热探笔本体的外侧之间设置有康铜丝，所述热探笔本体上设置有加热丝，所述热探笔本体包括热探笔安装板、固定连接在热探笔安装板左侧的第一压紧弹簧、固定连接在第一压紧弹簧左端的热探笔外壳、设置在热探笔外壳内侧的加热器、固定安装在加热器右侧的第一热电偶、插接在加热器内侧的热探笔探头，以及固定安装在热探笔安装板上的热探笔安装轴。

在上述技术方案的基础上，本实用新型还可以做如下改进。

进一步，所述冷探笔本体包括冷探笔安装板、固定安装在冷探笔安装板左侧的冷探笔套管、固定安装在冷探笔安装板左侧的第二压紧弹簧、固定连接在第二压紧弹簧左端的冷探笔探头、固定安装在冷探笔安装板右侧的第二热电偶，以及固定安装在冷探笔安装板右侧的冷探笔绝缘帽。

进一步，所述热探笔本体的外侧固定连接有第一纯铜丝，所述绝缘块右侧固定连接有第二纯铜丝，所述冷探笔本体的外侧固定连接有第三纯铜丝，所述热探笔本体与冷探笔本体相对一侧之间卡接有样品。

进一步，所述热探笔外壳的外侧开设有通孔，且第一热电偶远离热探笔外壳的底端贯穿通孔并延伸至热探笔外壳外侧。

进一步，所述第二热电偶的左端依次贯穿冷探笔安装板和冷探笔套管并延伸至冷探笔套管的左侧。

进一步，所述冷探笔套管位于第二压紧弹簧的内侧，所述第二热电偶的左端与冷探笔探头插接。

进一步，所述冷探笔探头和冷探笔探头的外侧均固定连接有镀金涂层，所述热探笔安装轴位于第一压紧弹簧内侧，且热探笔安装轴与热探笔外壳插接。

与现有技术相比，本申请的技术方案具有以下有益技术效果：

1、该用于Seebeck系数测试探针，通过采集第一纯铜丝和第二纯铜丝之间的电压，第一纯铜丝与第三纯铜丝之间的电压，并且常温下的Seebeck系数已知，则可以根据公式快速计算出被测样品的Seebeck系数。