[实用新型]一种电学测量用探针夹具

说明书

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具，其包括电路板和设置在电路板上的探针，所述电路板上固定设置有限位杆，所述限位杆顶部固定设置有上挡块，所述限位杆底部固定设置有下挡块，所述限位杆上设置有位于上挡块与下挡块之间的按压块，所述探针固定设置在按压块靠近电路板一侧，所述限位杆上套设有位于上挡块和按压块之间的弹簧。本申请中探针将芯片抵紧在电路板上，具有提高芯片在电路板上测量时的稳定性。

技术领域

本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具。

背景技术

芯片是集成电路的一种，在电子学中是一种将半导体设备的电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。

芯片制作完成后，需要把芯片放在芯片测试夹具上进行测试，芯片测试夹具也可以称为精密测试插座。目前的芯片测试夹具通常被固定在印制电路板的正面上，在芯片需要测试时，把芯片放置在芯片测试夹具上即可对芯片进行测试。

针对上述中的相关技术，工程技术人员或生产人员在芯片测试夹具上测试芯片时，有时需要移动印制电路板的位置，存在芯片掉落至夹具外侧的情况发生。

实用新型内容

为了提高芯片在夹具上测量时的稳定性，本申请提供一种电学测量用探针夹具。

本申请提供的一种电学测量用探针夹具采用如下的技术方案：

一种电学测量用探针夹具，包括电路板和设置在电路板上的探针，所述电路板上固定设置有限位杆，所述限位杆顶部固定设置有上挡块，所述限位杆底部固定设置有下挡块，所述限位杆上设置有位于上挡块与下挡块之间的按压块，所述探针固定设置在按压块靠近电路板一侧，所述限位杆上套设有位于上挡块和按压块之间的弹簧。

通过采用上述技术方案，测量芯片前，在限位杆的下挡块上朝向靠近电路板的一侧按压按压块，按压块将限位杆上的弹簧压缩至上挡块一端，使得固定设置有探针一端的按压块朝向远离电路板的一侧翘起。此时，将芯片放置在电路板上，停止按压按压块，固定设置有探针一端的按压块因重力朝向靠近电路板一侧运动，使得探针与电路板上放置的芯片抵接，从而将芯片抵接在电路板上。只需将电路板通电，即可对芯片实施测量，探针与芯片抵接，提高芯片在电路板上测量时的稳定性。

优选的，所述按压块上开设有供限位杆插设的腰形孔。

通过采用上述技术方案，限位杆可在按压块的腰形孔内滑移，可调节按压块和按压块上的探针在电路板上的长度，提高探针对不同尺寸芯片抵接的适用性。

优选的，所述限位杆上套设有与弹簧两端抵接的挡片。

通过采用上述技术方案，在限位杆的下挡块上朝向靠近电路板的一侧按压按压块时，按压块将限位杆上的弹簧压缩至挡块一端，此时，挡片将弹簧两端堵住，减少按压块挤压弹簧的力过大导致弹簧脱离限位杆的情况发生。

优选的，所述探针朝向远离按压块的一侧弯曲设置。

通过采用上述技术方案，弯曲设置的探针减少对芯片表面抵接时，产生的冲击力，有利于延长探针的使用年限，且减少对芯片表面的刮损，有利于保护芯片。

优选的，所述探针端部固定设置有背离电路板一侧弯曲设置的针头。

通过采用上述技术方案，因针头朝向背离电路板一侧弯曲设置，所以针头与电路板平行，将芯片固定在电路板上时，针头与芯片表面贴合并将芯片抵紧在电路板上，提高针头与芯片抵接的面积，从而提高了在电路板上测量芯片的稳定性。

优选的，所述电路板上固定设置有连接板。

通过采用上述技术方案，有利于取放电路板以及对电路板通电。

优选的，所述按压块靠近电路板的一侧开设有限位槽。