[实用新型]一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路有效

专利信息
申请号: 202121144435.5 申请日: 2021-05-26
公开(公告)号: CN214953930U 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 魏津;张经祥;吴艳平 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 测试 高压 数字 通道 自检 模块 诊断 电路
【权利要求书】:

1.一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,其特征在于:所述的高压数字通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口,第一近地电阻(RD1)至第四近地电阻(RD4),第一分压电阻(RF1)至第四分压电阻(RF4),接地电阻(R0);

第一近地电阻(RD1)、第二近地电阻(RD2)、第三近地电阻(RD3)及第四近地电阻(RD4)的一端合并接地;

第一近地电阻(RD1)的另一端分别连接第一分压电阻(RF1)的一端、高压数字通道自检模块的DPS_F0端口、DPS_S0端口、PMU_F0端口及PMU_S0端口,第一分压电阻(RF1)的另一端连接高压数字通道自检模块的HV0端口;

第二近地电阻(RD2)的另一端分别连接第二分压电阻(RF2)的一端、高压数字通道自检模块的DPS_F1端口、DPS_S1端口、PMU_F1端口及PMU_S1端口,第二分压电阻(RF2)的另一端连接高压数字通道自检模块的HV1;

第三近地电阻(RD3)的另一端分别连接第三分压电阻(RF3)的一端、高压数字通道自检模块的DPS_F2端口、DPS_S2端口、PMU_F2端口及PMU_S2端口,第三分压电阻(RF3)的另一端连接高压数字通道自检模块的HV2;

第四近地电阻(RD4)的另一端分别连接第四分压电阻(RF4)的一端、高压数字通道自检模块的DPS_F3端口、DPS_S3端口、PMU_F3端口及PMU_S3端口,第四分压电阻(RF4)的另一端连接高压数字通道自检模块的HV3;

高压数字通道自检模块的DPS_R0端口、DPS_RS0端口、DPS_R1端口、DPS_RS1端口、DPS_R2端口、DPS_RS2端口、DPS_R3端口、DPS_RS3端口、PMU_R0端口、PMU_RS0端口、PMU_R1端口、PMU_RS1端口、PMU_R2端口、PMU_RS2端口、PMU_R3端口、PMU_RS3端口合并连接接地电阻(R0)的一端,接地电阻(R0)的另一端接地。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路,其特征在于:所述的高压数字通道自检模块内的DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口的一端通过线路与集成电路测试机连接,高压数字通道自检模块内的DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口的另一端直接插入载具板上相对应的焊盘孔内。

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