[实用新型]一种集成式便于快速对准测量的结构有效

专利信息
申请号: 202121110745.5 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN214667546U 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 王章鹏;邢雪冰;方磊;朱国山;胡召意;查根胜 申请(专利权)人: 安徽华创鸿度光电科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230001 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 便于 快速 对准 测量 结构
【说明书】:

实用新型涉及激光测量技术领域,具体为一种集成式便于快速对准测量的结构,包括装置本体,所述装置本体包括光学底板,所述光学底板上设有光束质量分析仪,所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜,所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片,所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器。本实用新型通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片,这样利用可调节的反射镜和偏振片来实现改变入射光的偏振态,进而控制进入光束质量分析仪的功率大小,这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程,从而达到快速调试,让本装置的测量效率更高,同时本装置结构简单、操作简便,更加便于工作人员进行操作。

技术领域

本实用新型涉及激光测量技术领域,具体为一种集成式便于快速对准测量的结构。

背景技术

随着激光技术不断发展,激光的应用已经遍及科技、军事、社会发展等领域,同时如何对其参数测量进行测量已经成为激光技术研究中的热点问题。

通过激光技术应用的拓宽,先进的激光光束质量分析仪已然成为激光应用领域的关键,目前光束质量分析仪器结构种类繁多,其中结构简单测量参数较多的光束质量分析仪市场价格高,而价格较低的产品却存在着对准测量慢等问题,以及在使用光束质量分析仪时需要对光进行一定程度地衰减,不仅增加了工作人员的测量难度,且调试时间过长,影响了测量效率,因此需要设计一种集成式便于快速对准测量的结构。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成式便于快速对准测量的结构,以解决上述背景技术中提出的目前光束质量分析仪器结构种类繁多,其中结构简单测量参数较多的光束质量分析仪市场价格高,而价格较低的产品却存在着对准测量慢等问题,以及在使用光束质量分析仪时需要对光进行一定程度地衰减,不仅增加了工作人员的测量难度,且调试时间过长,影响了测量效率的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种集成式便于快速对准测量的结构,包括装置本体,所述装置本体包括光学底板,所述光学底板上设有光束质量分析仪,所述光束质量分析仪一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有反射镜,所述反射镜一面的光学底板上通过阻尼转轴安装有偏振片,所述偏振片一侧的光学底板上安装有光束收集器,所述偏振片另一侧的光学底板上通过阻尼转轴安装有半波片。

优选的,所述光学底板上均匀开设有螺孔,且各个螺孔之间的距离为2.5cm,所述光学底板四个顶点的螺孔中皆插入有M6螺丝,且M6螺丝的规格和螺孔的规格相适配。

优选的,所述光束质量分析仪和光束收集器通过压块和M6螺丝进行安装,且M6螺丝规格和压块规格相适配。

优选的,所述光学底板和压块的材质皆为铝制,所述光学底板的大小型号为40*60cm。

优选的,所述反射镜和偏振片的初始安装角度皆为45°,所述偏振片和反射镜直径为50mm。

优选的,所述光束质量分析仪和反射镜内侧的光学底板上安装有衰减片架,所述衰减片架的一端开设有衰减片槽,且衰减片槽的数量为三个。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

1、通过设置有反射镜、偏振片、光束收集器和半波片,这样利用可调节的反射镜和偏振片来实现改变入射光的偏振态,进而控制进入光束质量分析仪的功率大小,这样就减少了来回添加衰减片控制入射功率的过程,从而达到快速调试,让本装置的测量效率更高,同时本装置结构简单、操作简便,更加便于工作人员进行操作。

2、通过设置有多个螺孔和M螺丝,这样旋转M螺丝就可以将本装置整体进行高度提升,从而使得光束质量分析仪的进光孔高度就与待测光源高度一致,进而增加了本装置的适用性和实用场景,让本装置更加实用以及受到环境的约束更小。

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