[实用新型]一种Chroma Q-type转接板开路断路检验装置

说明书

一种Chroma Q‑type转接板开路断路检验装置，涉及半导体Chroma Q‑type测试设备维护领域，包括如下部件：Chroma Q‑type的测试机基本板(A)，Q‑type Tower(B)，通道连线(C1/C2)，检验板(D)，电源，显示灯若干。首先将A和B，按照规定的位置用螺丝组合在一起。让后将一边的连线C1连接在A的接触点上，C1的另一头连接在检验板上，将C2连线的一段连接在B的接触探针上，另一头连接在检验板的另外一段，通过检验板上的电源开关，联通在一起，A端的接触点和B端的探针连接在一起形成一个电路的通路，通路上用LED显示灯来验证通道是否断开。并且按照检板上的设计好的通道定义，快捷的显示出哪些通道是有问题，需要检修的，这样方便维修人员在平时维护检修时更快的排除问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体Chroma Q-type测试设备维护领域，尤其涉及一种 ChromaQ-type转接板开路断路检验装置。

背景技术

Chroma Q-type转接板是Chroma测试的一种类型分类，Q-type的通道主要到256个测试通道，主要包括Q-type转接板和Q-type Tower作为导体连接测试机的测试板卡和探针的对应接触点，在测试过程中，探针与晶圆的Pad接触，形成一个测试的环路，通过该产品的设定的测试程序，对该晶圆的芯片，进行电性的检测。本发明的目的在于提供了一种ChromaQ-type转接板开路断路检验装置，以解决现有测试过程中，如果出现产品电性测试时的断路检测，排除出转接板 (A)和tower(B)中间的连接问题或者是Tower的探针损坏或者解除不良导致的断路现象。

实用新型内容

为了本发明的目的在于提供了一种Chroma Q-type转接板开路断路检验装置，以解决现有测试过程中，如果出现产品电性测试时的断路检测，排除出Q-type 转接板转接板和Q-type Tower中间的连接问题，或者是Tower的探针损坏或者解除不良导致的断路现象的问题。本实用新型提供了一种Chroma Q-type转接板开路断路检验装置，其技术方案如下所述：

一种Chroma Q-type转接板开路断路检验装置，包括Q-type转接板，Q-typeTower，检验板，信号灯，电源模块；信号灯固定安装在检验板上，信号灯一端与Q-type转接板的接触点连接，另一端与Q-type Tower的接触探针连接；电源模块固定安装在检验板内；检验板上分别设有与Q-type转接板对应的Apin插口和Q-type Tower对应的Bpin插口，Q-type转接板上设有至少四个接触口A，接触口A与Apin插口连接，Q-type Tower上设有至少四个接触口B，接触口B与 Bpin插口连接；Q-type转接板与Q-type Tower通过螺丝连接。

具体的，Apin插口为68pin插口。

具体的，B pin插口为68pin插口。

具体的，接触口A与Apin插口通过通道连线连接。

具体的，接触口B与B pin插口通过通道连线连接。

具体的，Apin插口有四个。

具体的，B pin插口有四个。

具体的，信号灯为LED灯。

具体的，电源模块能将220V电压转换为24V电压。

从上述描述中可以得出该装置具有以下优点：通过将Q-type Tower与Q-type 转接板分别与检验板连接，利用检验板上的显示灯来判断Q-type Tower与Q-type 转接板之间是否连接，解决了在现有测试过程中，如果出现产品电性测试时的断路检测，排除出Q-type转接板和Q-type Tower中间的连接问题，或者是Tower 的探针损坏或者解除不良导致的断路现象的问题。

附图说明