[实用新型]一种电池片测试组件和装置

说明书

本申请实施例提供一种电池片测试组件和装置，涉及电池片技术领域。电池片测试组件包括测试膜，测试膜的光透过率不低于88％，测试膜包括叠加设置的支撑层和用于与电池片的正面相接触的石墨烯层。电池片测试装置包括用于与电池片的背面相接触的导电台和上述的电池片测试组件。本申请实施例的电池片测试组件和装置，通过与电池片面接触的方式进行性能测试，能够实现电池片性能精确测试，且降低电池片隐裂风险，节约成本。

技术领域

本申请涉及电池片技术领域，具体而言，涉及一种电池片测试组件和装置。

背景技术

能源是人类生存和发展的物质的基础，光伏能源是人类可直接获取的、可再生的清洁能源，近几十年来，光伏技术得到了飞跃式的发展，量产的电池转换效率最高已经超过25％，但是光伏发电要成为廉价、可大规模应用，从而替代传统发电方式的能源途径，还需要继续降低光伏发电的应用成本。作为高效光伏产品的电池片暂露头角，而电池片的电性能测试是电池片研究生产的重要环节。

对于有主栅的电池片，常用的测试方法是使用密集的铜探针组或铜丝簇作为正面电极接触电池片的正面主栅，使用铜台面等作为背面电极接触电池片的背面。该测试方法通常可以实现与电池片正负极良好接触，完成电性能测试。但是采用铜探针组或铜丝簇测试电池片时，铜探针必须紧密接触电池片，必然会对电池片的局部施加一定的压力，导致电池片存在隐裂的风险。而且铜探针长时间使用会产生磨损，需要定期更换，会增加电池片的生产成本和生产时间。另外，不同的主栅电池具有不同的栅线图形(主栅的数量、位置、宽度不同)，使用铜探针组或铜丝簇测试不同的电池片时，需要调整铜探针的位置，测试过程复杂。

为了降低发电成本，又开发了一些无主栅电池，无主栅电池只印刷了细栅，没有印刷主栅，这种无主栅电池的电性能测试难度更大。虽然目前已有一些用于测试无主栅电池的方法，但是都没有脱离探针组或铜丝簇，利用脱离探针组或铜丝簇接触细栅，这种测试方法仍然存在电池片容易隐裂，以及增加生产成本和生产时间的问题。更为关键的是，由于细栅相对主栅宽度更小，采用铜探针或铜丝和细栅接触时，存在接触不良的问题，会产生一定的测试误差，导致电池片电性能数据测试不精确。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种电池片测试组件和装置，通过与电池片面接触的方式进行性能测试，能够实现电池片性能精确测试，且降低电池片隐裂风险，节约成本。

第一方面，本申请实施例提供了一种电池片测试组件，用于测试电池片，其包括测试膜，测试膜的光透过率不低于88％，测试膜包括叠加设置的支撑层和用于与电池片的正面相接触的石墨烯层。

在上述实现过程中，测试膜包括支撑层和石墨烯层，石墨烯层能够与电池片的正面进行面接触，且测试膜的光透过率不低于88％，对电池片(可以为有主栅电池片，也可以为无主栅电池片)进行性能测试时，采用整张的测试膜作为正面接触电极，太阳光透过测试膜照射于电池片的正面，电池片产生的电流通过石墨烯层收集并导出。由于测试膜采用的是与电池片面接触的方式，尤其是石墨烯层可以和电池片的每一根栅线接触：对于有主栅电池片，石墨烯层主要与电池片正面的所有主栅接触；对于无主栅电池片，石墨烯层与电池片正面的所有细栅接触，保证测试膜和电池片的充分接触，最大程度上的减小因接触不良产生的电流、功率损耗，保证测试的精确性；而且面接触的方式还能够降低电池片隐裂风险，节约成本。

另外，为了保证石墨烯层的光透过率，石墨烯层需要足够薄，通过支撑层可以在保证光透过率的前提下使石墨烯层平整铺开，从而与电池片充分接触；而且支撑层的光透过率高，保证测试膜整体的光透过率；支撑层不导电，保证电流只能由石墨烯层收集、导出。

在一种可能的实现方式中，石墨烯层的厚度为0.5～1.01nm；和/或，石墨烯层的光透过率不小于96％。