[实用新型]二分之一硅片置中装置有效
申请号: | 202120751824.8 | 申请日: | 2021-04-13 |
公开(公告)号: | CN214898364U | 公开(公告)日: | 2021-11-26 |
发明(设计)人: | 吴廷斌;张学强;张建伟;罗银兵;邓大桥 | 申请(专利权)人: | 罗博特科智能科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/68 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 | 代理人: | 殷海霞 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二分 之一 硅片 装置 | ||
1.一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:包括第一定位部、第二定位部、第三定位部和第四定位部,所述第一定位部和第二定位部能够同步移动,所述第三定位部和第四定位部能够同步移动,当所述第一、三定位部相向移动对第一组二分之一硅片进行定位时,所述第二、四定位部相向移动对第二组二分之一硅片进行定位。
2.根据权利要求1所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:所述第一、二、三、四定位部均包括定位件,所述定位件的定位侧设有至少两个定位齿。
3.根据权利要求2所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:相邻两个所述定位齿之间还设有容纳二分之一硅片的定位槽。
4.根据权利要求3所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:相向移动的两个定位件上的定位槽之间的距离大于二分之一硅片的宽度1-2mm。
5.根据权利要求2-4任意一项所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:所述第一、二、三、四定位部还包括支撑部,所述第一、三定位部的定位件通过所述支撑部位于同一水平高度,所述第二、四定位部的定位件通过所述支撑部位于同一水平高度。
6.根据权利要求5所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:所述定位件相对所述支撑部的水平位置可调。
7.根据权利要求1所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:所述第一定位部和第二定位部通过衔接板连接为第一定位模组,所述第三定位部和第四定位部通过衔接板连接为第二定位模组。
8.根据权利要求7所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:还包括滑动模组,所述滑动模组支撑所述第一、二定位模组。
9.根据权利要求7所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:还包括检测机构,所述检测机构用于检测所述第一、二定位模组是否过位和是否到位。
10.根据权利要求7所述的一种二分之一硅片置中装置,其特征在于:还包括驱动机构,所述驱动机构驱动所述第一、二定位模组相向移动。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造