[实用新型]一种自由落体窗口以及粒度分析仪有效

专利信息
申请号: 202120727282.0 申请日: 2021-04-09
公开(公告)号: CN214844642U 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 吴爱斌 申请(专利权)人: 珠海欧美克仪器有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 陈慧华
地址: 519085 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 自由落体 窗口 以及 粒度 分析
【说明书】:

实用新型公开了一种自由落体窗口,包括:窗体;两块光学玻璃,相对设置在所述窗体的左右侧壁上,两块所述光学玻璃之间形成测试区域;样品导管,竖直设置在所述窗体上,上端开口直接或间接与振动送料器的出料口连通,下端开口呈椭圆状且处于所述测试区域的正上方,所述下端开口的长轴与两块所述光学玻璃的中心连线垂直。本实用新型还公开了一种具有上述自由落体窗口的粒度分析仪。本实用新型结构巧妙,能够有效减小光学玻璃被样品粉尘颗粒划伤或污染的概率,减小了样品粒度测试过程中的背景噪音,并提高了样品粒度测试结果的准确性。

技术领域

本实用新型涉及粒度分析仪器技术领域,特别涉及一种自由落体窗口以及粒度分析仪。

背景技术

国内市场粒度分析仪主要采用振动送料,样品颗粒自由落体分散方式对颗粒进行粒度粒形测试,仪器包括:振动送料器、自由落体窗口、测试主机。样品颗粒通过振动送料器振动,自由落体经过自由落体窗口上的测试区域,测试主机上的高速相机或光能探测组件对测试区域图像或光能分布信息进行快速采集,同时传输给后台图像或光能分布信息分析区,后台图像或光能分布信息分析区对样品颗粒图像或光能分布信息进行快速分析,可得到样品颗粒的粒度粒形信息。

现有的粒度分析仪一般需要在测试区域上设置一对光学玻璃以供高速相机或光能探测组件透光并采样品颗粒的图像或光能分布信息,粒度分析仪在实际使用时,高速气流混带样品中的粉尘颗粒会直接与光学玻璃表面接触摩擦,导致光学玻璃会出现表面划伤或污染现象,光学玻璃的表面划伤及污染不仅大大增加了测试的背景噪音,还影响着样品粒度测试结果的准确性。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种自由落体窗口,能够有效减小光学玻璃被样品粉尘颗粒划伤或污染的概率,减小了样品粒度测试过程中的背景噪音,并提高了样品粒度测试结果的准确性。

此外,本实用新型还提出一种包括上述自由落体窗口的粒度分析仪。

根据本实用新型第一方面实施例的一种自由落体窗口,包括:窗体;两块光学玻璃,相对设置在所述窗体的左右侧壁上,两块所述光学玻璃之间形成测试区域;样品导管,竖直设置在所述窗体上,上端开口直接或间接与振动送料器的出料口连通,下端开口呈椭圆状且处于所述测试区域的正上方,所述下端开口的长轴与两块所述光学玻璃的中心连线垂直。

根据本实用新型第一方面实施例的一种自由落体窗口,至少具有如下有益效果:

本自由落体窗口可直接应用在粒度分析仪上,对样品颗粒进行粒度粒形测试时,样品颗粒通过振动送料器振动流入样品导管中,经自由落体后从样品导管的下端开口流出进而进入到测试区域中进行测试,由于样品导管的下端开口呈椭圆状,且下端开口的长轴与两块所述光学玻璃的中心连线垂直,样品颗粒从下端开口流出后会形成较为规则的椭圆体样品颗粒束而穿过测试区域,有利于高速相机或光能探测组件发出的主光束能够垂直射向更大竖向横截面的样品颗粒群,提高了样品颗粒粒度粒形测试结果的准确性;同时,由于下端开口的短轴与两块所述光学玻璃的中心连线平行,直接的增大了下端开口两端与左右两块所述光学玻璃之间的横向距离,使得从下端开口自由落体的样品颗粒会尽可能地沿测试区域的中部流动,有效减小光学玻璃被样品粉尘颗粒划伤或污染的概率,并减小了样品粒度测试过程中的背景噪音,进一步提高了样品粒度测试结果的准确性。

根据本实用新型的一些实施例,所述上端开口呈圆形,所述上端开口的横截面积与所述下端开口的横截面积相等。

根据本实用新型的一些实施例,所述样品导管包括上下一体成型的圆柱管和椭圆管,所述圆柱管和椭圆管之间圆滑过渡。

根据本实用新型的一些实施例,所述窗体上可拆卸地设有安装窗,所述安装窗的左右两侧均设有窗孔,所述光学玻璃可拆卸地安装在所述窗孔上,所述安装窗的上端还开设有椭圆插孔,所述样品导管的下端活动嵌设在所述椭圆插孔内。

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