[实用新型]一种集成电路验证系统的连接驱动电路有效
申请号: | 202120718149.9 | 申请日: | 2021-04-08 |
公开(公告)号: | CN214669454U | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 | 申请(专利权)人: | 天津普智芯网络测控技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 | 代理人: | 甄丹凤 |
地址: | 300000 天津市滨海新区滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 验证 系统 连接 驱动 电路 | ||
一种集成电路验证系统的连接驱动电路,包括测试机连接电路及与所述测试机连接电路连接的信号处理电路,所述信号处理电路包括信号放大电路及信号缩小电路,将信号通过所述信号处理电路进行放大或缩小处理,驱动所述测试机连接电路及通过所述测试机连接电路连接的测试机,所测试机连接电路通过芯片座连接电路连接测试芯片能保证正常驱动测试机,提高测试效率;与所述测试机连接电路连接的若干跳线电路,及与所述电源处理电路连接的电源跳线电路,用于手动控制信号的传输。
技术领域
本实用新型涉及集成电路验证分析技术领域,尤其是一种集成电路验证系统的连接驱动电路。
背景技术
集成电路验证系统主要用于集成电路原形芯片的验证测试,系统具有将仿真向量转换转换成测试向量的能力,具有较强的测试和分析能力,能精确地测试集成电路的直流参数、交流参数和动态功能,可分析集成电路各种功能、参数特性,寻找分析功能、参数失效点及相关失效条件,可配接各种信号源和测试仪器;集成电路验证系统在连接测试机时,信号过大或过小均无法正常驱动连接测试机,导致不能正常进行测试;且不能手动完成一些软件不能实现的操作。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种集成电路验证系统的连接驱动电路。
本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:
一种集成电路验证系统的连接驱动电路,包括测试机连接电路及与所述测试机连接电路连接的信号处理电路,所述信号处理电路包括信号放大电路及信号缩小电路,将信号通过所述信号处理电路进行放大或缩小处理,驱动所述测试机连接电路及通过所述测试机连接电路连接的测试机。
优选的,还包括与所述测试机连接电路连接的芯片座连接电路,所述芯片座连接电路连接测试芯片。
优选的,还包括与所述测试机连接电路连接的若干跳线电路用于手动控制信号的传输。
优选的,所述信号处理电路包括与所述测试机连接电路连接的若干个结构相同的信号放大电路,将信号进行放大处理传输至所述测试机连接电路;所述信号放大电路包括处理器一及与所述处理器一连接的放大滤波电路。
优选的,所述信号处理电路还包括与所述测试机连接的若干个结构相同的信号缩小电路,将信号进行缩小处理后传输至所述测试机连接电路;所述信号缩小电路包括处理器二及与所述处理器二连接的缩小滤波电路。
优选的,所述处理器一及所述处理器二的型号为THS4012CDGN。
优选的,还包括与所述信号处理电路连接的电源电路,所述电源电路包括电源处理电路及与所述电源处理电路连接的电源跳线电路。
优选的,所述电源跳线电路包括与所述电源处理电路连接的电容C49、电容C50、电容C51、电容C52,及与所述电容C51、电容电容C52连接的跳线器VCC。
优选的,还包括与所述测试机连接电路连接的测试滤波电路。
优选的,所述放大滤波电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5及电容C1。
本实用新型的优点和积极效果是:
1.本实用新型包括测试机连接电路及与所述测试机连接电路连接的信号处理电路,所述信号处理电路包括信号放大电路及信号缩小电路,将信号通过所述信号处理电路进行放大或缩小处理,驱动所述测试机连接电路及通过所述测试机连接电路连接的测试机,所测试机连接电路通过芯片座连接电路连接测试芯片能保证正常驱动测试机,提高测试效率。
2.本实用新型还包括与所述测试机连接电路连接的若干跳线电路,及与所述电源处理电路连接的电源跳线电路,用于手动控制信号的传输。
附图说明
图1是本实用新型的电路连接框图;
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