[实用新型]一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路有效
申请号: | 202120710434.6 | 申请日: | 2021-04-07 |
公开(公告)号: | CN214795101U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 宋晓荣;张大伟;屈粮富;马慧娟 | 申请(专利权)人: | 天津普智芯网络测控技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R23/16 |
代理公司: | 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 | 代理人: | 甄丹凤 |
地址: | 300000 天津市滨海新区滨海*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 数据 转换 器件 验证 系统 dac 测试 电路 | ||
一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路,包括控制电路、被测芯片、切换电路,动态参数检测电路及静态参数检测电路;所述控制电路连接所述被测芯片,所述被测芯片通过所述切换电路选择连接所述动态参数检测电路及所述静态参数检测电路,通过所述切换电路便于切换所述动态参数检测电路及所述静态参数检测电路;动态参数检测电路包括跟随器及与所述跟随器连接的频谱仪;所述跟随器提升输出模拟信号的驱动能力传输至所述频谱仪对模拟信号进行分析。
技术领域
本实用新型涉及DAC测试技术领域,尤其是一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路。
背景技术
DAC测试方法是在输入端加数字激励信号,在模拟输出端测试其输出性能的指标;DAC测试规范分为两个基本类别:静态与动态;静态规范是在稳定输出状态下、在DAC输出端观察到的行为,而动态规范则是指在代码至代码转换过程中所观察到的行为;在测试被测芯片的动态参数及静态参数时,不易切换,且在动态参数检测时不易驱动频谱仪导致不能正常进行测试。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路。
本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:
一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路,包括控制电路、被测芯片、切换电路,动态参数检测电路及静态参数检测电路;所述控制电路连接所述被测芯片,所述被测芯片通过所述切换电路选择连接所述动态参数检测电路及所述静态参数检测电路。
优选的,所述动态参数检测电路包括频谱仪,对模拟信号进行分析。
优选的,所述动态参数检测电路还包括跟随器,所述跟随器的输出端连接所述频谱仪,所述跟随器提升输出模拟信号的驱动能力。
优选的,所述静态参数检测电路包括差分输入单端输出放大器及与所述差分输入单端输出放大器连接的差分输入差分输出放大器将所述被测芯片产生的单端模拟信号转换为差分模拟信号。
优选的,所述静态参数检测电路还包括与所述差分输入差分输出放大器连接的差分输入差分输出放大器,所述差分输入差分输出放大器识别所述差分输入差分输出放大器的差分模拟信号,并将模拟信号转变为数字信号。
优选的,还包括信号电路,所述信号电路包括信号发生器及与所述信号发生器连接的差分时钟电路;所述差分时钟电路连接所述被测芯片。
优选的,所述差分时钟电路包括变压器CL_T1及与所述变压器CL_T1连接的RC变压电路用于提高时钟信号的稳定性。
优选的,还包括与所述被测芯片连接的滤波电路对所述被测芯片进行滤波处理。
优选的,所述控制电路包括母板FPGA电路,所述母板FPGA电路连接所述被测芯片的输入端及静态参数检测电路的输出端,所述被测芯片将所述母板FPGA电路输出的数字信号转换成低频率模拟信号。
优选的,所述控制电路还包括上位机,所述上位机通过通讯电路与所述母板FPGA电路连接,所述上位机控制所述母板FPGA电路输出信号及对传输回来的数据进行分析研究静态参数。
本实用新型的优点和积极效果是:
1.本实用新型一种数据转换器件验证系统的DAC测试电路,包括控制电路、被测芯片、切换电路,动态参数检测电路及静态参数检测电路;所述控制电路连接所述被测芯片,所述被测芯片通过所述切换电路选择连接所述动态参数检测电路及所述静态参数检测电路,通过所述切换电路便于切换所述动态参数检测电路及所述静态参数检测电路。
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