[实用新型]一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元

权利要求书

1.一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，包括上单元和下单元，所述上单元包括上框(1)和上针排支架(2)，所述上框(1)通过上针排支架(2)滑动连接有单排测试排(3)和双排测试排(9)；

所述下单元包括下框(4)和下针排支架(8)，所述下框(4)通过下针排支架(8)滑动连接有单排探针排(6)和双排探针排(5)，所述单排探针排(6)和双排探针排(5)上设置有探针(7)。

2.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述上框(1)两侧开设上T形滑槽(101)，所述上针排支架(2)有十二个，两条所述上T形滑槽(101)中分别滑动连接有六个所述上针排支架(2)。

3.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述下框(4)两侧开设下T形滑槽(401)，所述下针排支架(8)有十二个，两条所述下T形滑槽(401)中分别滑动连接有六个所述下针排支架(8)。

4.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述双排测试排(9)两端分别与上针排支架(2)固定连接，所述双排测试排(9)有四个，四个所述双排测试排(9)设置在上框(1)的中部，所述单排测试排(3)两端分别与上针排支架(2)固定连接，所述单排测试排(3)有两个，两个所述单排测试排(3)设置在上框(1)的两端。

5.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述双排探针排(5)两端分别与下针排支架(8)固定连接，所述双排探针排(5)有四个，四个所述双排探针排(5)的设置在下框(4)的中部，所述单排探针排(6)两端分别与下针排支架(8)固定连接，所述单排探针排(6)有两个，两个所述单排探针排(6)设置在下框(4)的两端。

6.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述单排探针排(6)上均匀分布有一排探针(7)，所述单排探针排(6)上的探针(7)之间的设置间隙为5mm，所述双排探针排(5)上均匀分布有两排探针(7)，所述双排探针排(5)上探针(7)之间的设置间隙为5mm。

7.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述上针排支架(2)下端固定连接有上T形滑块(201)，所述上针排支架(2)通过上T形滑块(201)与上框(1)滑动连接，所述上针排支架(2)上开设上圆形通孔(202)，所述上圆形通孔(202)中设置有电磁吸附装置(10)。

8.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述下针排支架(8)下端固定连接有下T形滑块(801)，所述下针排支架(8)通过下T形滑块(801)与下框(4)滑动连接，所述下针排支架(8)上开设下圆形通孔(802)，所述下圆形通孔(802)中设置有电磁吸附装置(10)。

9.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，四个所述双排探针排(5)与四个所述双排测试排(9)一一对应设置，两个所述单排探针排(6)与两个所述单排测试排(3)一一对应设置。

10.根据权利要求1所述的一种用于叠瓦组件的多针排EL测试单元，其特征在于，所述单排测试排(3)和双排测试排(9)材质为表面经过镀银处理的铜排。