[实用新型]一种基于磁阻原理涂层测厚仪

权利要求书

1.一种基于磁阻原理涂层测厚仪，其特征在于：包括测厚仪本体(1)，所述测厚仪本体(1)内设有内腔(2)，所述内腔(2)内安装有能转动的轴杆(3)，所述轴杆(3)上绕有螺旋齿(4)，每相邻的两个所述螺旋齿(4)之间形成螺旋通道(5)，所述测厚仪本体(1)内设有滑腔(6)，所述滑腔(6)内安装能滑动的滑块(7)，线路(8)绕在所述螺旋通道(5)内，所述测厚仪本体(1)设有连通所述滑腔(6)和所述内腔(2)的缺口(9)，所述线路(8)的首端从所述螺旋通道(5)的首端伸出连接所述测厚仪本体(1)，所述线路(8)的尾端从所述螺旋通道(5)的尾端伸出穿过所述滑腔(6)和所述缺口(9)连接探头(12)。

2.根据权利要求1所述一种基于磁阻原理涂层测厚仪，其特征在于：所述缺口(9)、滑腔(6)和所述内腔(2)平行。

3.根据权利要求1所述一种基于磁阻原理涂层测厚仪，其特征在于：所述轴杆(3)两端分别连接第一凸起(15)和第二凸起(13)，所述第一凸起(15)和第二凸起(13)分别穿过所述测厚仪本体(1)，所述第一凸起(15)连接回卷器(14)。

4.根据权利要求3所述一种基于磁阻原理涂层测厚仪，其特征在于：所述测厚仪本体(1)上设有卡接所述探头(12)的卡槽(11)，所述第一凸起(15)伸入所述卡槽(11)，所述探头(12)上设有与所述第一凸起(15)相适配的凹陷(16)。

5.根据权利要求3所述一种基于磁阻原理涂层测厚仪，其特征在于：所述探头(12)为圆柱型。