[实用新型]一种高精密镀层测厚仪有效

专利信息
申请号: 202120683800.3 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN215064425U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 王夫君 申请(专利权)人: 苏州笙谷精密仪器有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 镀层 测厚仪
【说明书】:

实用新型公开了一种高精密镀层测厚仪,包括竖杆、按压橡胶球、测厚仪本体、测试探头、横块及扶正斜块,所述横块的下方设有三个扶正斜块,所述三个扶正斜块形成三角形,所述测试探头通孔位于三个扶正斜块组成的三角形的中间,在实际使用过程中,将测厚仪底部的三个扶正斜块贴合在待测机械零部件上,然后手动按压竖杆顶部的橡胶球,使竖杆向下运动,从而带动竖杆底部的测试探头向下运动接触待测机械零部件的表面,完成膜厚的检测,三个扶正斜块可辅助测厚仪的测试探头与待测物体的表面贴合在一起,避免了测厚仪与待测物体表面存在空隙,从而提高了膜厚测量的准确性,消除质量隐患。

技术领域

本实用新型涉及测厚仪技术领域,特别涉及一种高精密镀层测厚仪。

背景技术

镀层测厚仪是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,被广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,但现如今的镀层测厚仪在使用时,镀层测厚仪与被测物体的表面贴合在一起进行镀层测试时,手动测试,测试探头极易摆放歪斜,导致测试探头与被测物体的测试处存在空隙,从而使测量的数据存在着较大的误差,存在质量隐患。

本实用新型在于提供一种高精密镀层测厚仪来解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决现有的镀层测厚仪在使用时,镀层测厚仪与被测物体的表面贴合在一起进行镀层测试时,手动测试,测试探头极易摆放歪斜,导致测试探头与被测物体的测试处存在空隙,从而使测量的数据存在着较大的误差,存在质量隐患这一技术问题,提供一种高精密镀层测厚仪来解决上述技术问题。

为实现前述实用新型目的,本实用新型采用的技术方案:包括竖杆、按压橡胶球、测厚仪本体、测试探头、横块及扶正斜块,所述测厚仪本体顶部的中央固定连接有竖杆,所述测厚仪本体的下方固定有横块,所述横块的中间位置设有测试探头通孔,所述横块的下方设有三个扶正斜块,所述三个扶正斜块形成三角形,所述测试探头通孔位于三个扶正斜块组成的三角形的中间,所述竖杆穿过测厚仪本体底部与测试探头相连,所述竖杆的顶部设有按压橡胶球。

进一步的,所述扶正斜块为三角形。

与现有技术相比,本实用新型的优点包括:在实际使用过程中,将测厚仪底部的三个扶正斜块贴合在待测机械零部件上,然后手动按压竖杆顶部的橡胶球,使竖杆向下运动,从而带动竖杆底部的测试探头向下运动接触待测机械零部件的表面,完成膜厚的检测,三个扶正斜块可辅助测厚仪的测试探头与待测物体的表面贴合在一起,避免了测厚仪与待测物体表面存在空隙,从而提高了膜厚测量的准确性,消除质量隐患。

附图说明

图1为本实用新型的一种高精密镀层测厚仪结构示意图;

图中:1、竖杆;2、按压橡胶球;3、测厚仪本体;4、测试探头;5、横块;6、扶正斜块;7、测试探头通孔。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足,本案经长期研究和大量实践,得以提出本实用新型的技术方案。如下将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。

图1为本实用新型实施例中提供的一种高精密镀层测厚仪结构示意图。如图1所示,本实用新型实施例中提供的一种高精密镀层测厚仪,包括竖杆1、按压橡胶球2、测厚仪本体3、测试探头4、横块5及扶正斜块6,所述测厚仪本体3顶部的中央固定连接有竖杆1,所述测厚仪本体3的下方固定有横块5,所述横块5的中间位置设有测试探头通孔7,所述横块5的下方设有三个扶正斜块6,所述三个扶正斜块6形成三角形,所述测试探头通孔7位于三个扶正斜块6组成的三角形的中间,所述竖杆1穿过测厚仪本体3底部与测试探头4相连,所述竖杆1的顶部设有按压橡胶球2。

优选的,所述扶正斜块6为三角形。

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