[实用新型]一种用于测试高分辨率显示模组的装置有效
申请号: | 202120644715.6 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN215376864U | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 林志坚;王海;曾新勇;黄雪展 | 申请(专利权)人: | 康惠(惠州)半导体有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 陈文福 |
地址: | 516001 广东省惠州市仲恺高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 高分辨率 显示 模组 装置 | ||
1.一种用于测试高分辨率显示模组的装置,其特征在于,包括单片机、与所述单片机电性连接的转换IC,所述单片机为STM32F429单片机,所述转换IC为SSD2828转换IC或者GM8285C转换IC;
所述STM32F429单片机与所述SSD2828转换IC电性连接分别用于测试mipi接口720*1280、800*1280、1366*768高分辨率的显示模组;
所述STM32F429单片机设有RGB接口。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试高分辨率显示模组的装置,其特征在于,所述STM32F429单片机与所述GM8285C转换IC电性连接用于测试LVDS接口LCD高分辨率的显示模组。
3.根据权利要求2所述的一种用于测试高分辨率显示模组的装置,其特征在于,所述STM32F429单片机与所述GM8285C转换IC电性连接用于测试LVDS接口LCD 720*1280分辨率的显示模组。
4.根据权利要求2所述的一种用于测试高分辨率显示模组的装置,其特征在于,所述STM32F429单片机与所述GM8285C转换IC电性连接用于测试LVDS接口LCD 800*1280分辨率的显示模组。
5.根据权利要求2所述的一种用于测试高分辨率显示模组的装置,其特征在于,所述STM32F429单片机与所述GM8285C转换IC电性连接用于测试LVDS接口LCD 1366*768分辨率的显示模组。
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