[实用新型]一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置有效

专利信息
申请号: 202120617914.8 申请日: 2021-03-26
公开(公告)号: CN214751936U 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 陶冶;李松;张连赟;张学成 申请(专利权)人: 沈阳派尔泰科科技有限公司
主分类号: G06K17/00 分类号: G06K17/00;G06F13/38
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 周宇
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 兼容 接触 芯片 读取 接口 装置
【权利要求书】:

1.一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,包括芯片校验针板(1)和设在芯片校验针板(1)上的接触式电路(5)、非接触式电路(6);所述接触式电路(5)包括接触探针、接触式电路外露接口(3),所述接触探针外露在所述芯片校验针板(1)上,且通过设在芯片校验针板(1)内的导线连接所述接触式电路外露接口(3);所述接触探针与待检测芯片触点接触连接,所述接触式电路外露接口(3)与上位机连接;所述非接触式电路(6)包括非接触式天线线圈(601)、非接触式电路外露接口(4),所述非接触式天线线圈(601)围绕所述待检测芯片缠绕,且通过设在芯片校验针板(1)内的导线连接非接触式电路外露接口(4);所述非接触式天线线圈(601)与待检测芯片通过电磁感应连接,所述非接触式电路外露接口(4)与上位机连接。

2.根据权利要求1所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,还包括设在所述芯片校验针板(1)上芯片测试底座(2);所述接触式电路(5)的若干个接触探针设在芯片测试底座(2)上,且与放在芯片测试底座(2)上的待检测芯片触点接触连接。

3.根据权利要求2所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,接触式电路(5)的信号发送接触探针、信号接收接触探针、时钟接触探针分别与接触式电路外露接口(3)各信号引脚连接。

4.根据权利要求2-3任意一项所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,所述接触式电路外露接口(3)为RS-485串口或RS-232串口。

5.根据权利要求1所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,在所述非接触式天线线圈(601)与非接触式电路外露接口(4)之间还包括稳压滤波电路(602):非接触式天线线圈(601)两端分别经过第一滤波支路、第二滤波支路连接非接触式电路外露接口(4),所述第一滤波支路、第二滤波支路为电容并联电路。

6.根据权利要求5所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,所述非接触式天线线圈(601)围绕待检测芯片缠绕若干圈。

7.根据权利要求5所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,所述非接触式天线线圈(601)缠绕的形状为方形或圆形。

8.根据权利要求5-7任意一项所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,所述非接触式电路外露接口(4)为同轴电缆接口。

9.根据权利要求5-7任意一项所述的一种兼容接触式与非接触式芯片读取接口的装置,其特征在于,当所述一块芯片校验针板(1)内设有多个非接触式天线线圈(601)时,在芯片校验针板(1)上还设有屏蔽金属网(7),所述屏蔽金属网(7)隔离相邻两个非接触式天线线圈(601)的电磁场。

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