[实用新型]光源和摄像头模组杂光检测系统

说明书

本实用新型公开了一种光源和摄像头模组杂光检测系统，用于摄像头模组杂光检测，其中。该光源包括：光源基板和多个子光源，多个子光源均设置在光源基板上，多个子光源中包括至少两种不同形状的子光源。本实用新型的光源，便于在检测摄像头模组的杂光检测中，降低杂光辨别和分析难度，容易追踪光的反射的起始点，能提升对杂光的分析效率，节省测试和分析时间。

技术领域

本实用新型属于摄像头检测技术领域，尤其是涉及一种光源和摄像头模组杂光检测系统。

背景技术

在相关技术中，为了检测摄像头杂光情况，如图1所示，一般采用一个单点光源的方式，将单点光源1’围绕待测摄像头模组2’从0度-180度旋转，并采集图像，采集的光源图像如图2所示，基于图2所示的系列图像通过手动来判定杂光的有无。

如上的摄像头杂光检测方法，需要手动判断杂光有无，效率低，精度低。以及，有些技术中采用多点光源对摄像头模组进行杂光检测，但是，很难判断杂光到底从哪里反射出来，不能判断杂光反射的位置。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种光源，在摄像头模组杂光检测时采用该光源，可以追踪杂光反射的起始点，节约杂光测试和分析时间，提升杂光检测效率。

本实用新型的目的之二在于提出一种摄像头模组杂光检测系统。

为了解决上述问题，本实用新型第一方面实施例提供的光源，用于摄像头模组杂光检测，所述光源包括：光源基板；多个子光源，所述多个子光源均设置在所述光源基板上，多个子光源中包括至少两种不同形状的子光源，不同形状的子光源相邻设置。

根据本实用新型实施例的光源，用于摄像头模组杂光检测，该光源包括光源基板和设置在光源基板上的多个子光源，对于包括棱镜组件的摄像头模组，采用多点光源，可以区分光源中心和外部，为更加详细地分析摄像头模组内部光线反射提供方便；以及，多个子光源包括至少两种形状的子光源，不同形状的子光源相邻设置，在对摄像头模组进行杂光检测时，采集光源图像，基于不同形状的子光源成像，根据光源的形状可以追踪杂光反射的次数和起始点；以及，基于该光源对摄像头模组进行杂光检测，可以通过图像分析自动实现，相较于手动分析，节省了测试和分析时间，提高测试效率。

在本实用新型的一些实施例中，所述光源基板为均匀发光板；所述多个子光源还包括测试图卡，所述测试图卡覆盖在所述均匀发光板上，所述测试图卡上设置有至少两种形状的通孔，所述均匀发光板的发射光线通过所述通孔形成所述多个子光源。

在本实用新型的一些实施例中，所述多个子光源为发光光源且镶嵌或粘贴在所述光源基板上。

在本实用新型的一些实施例中，所述多个子光源为LED灯。

在本实用新型的一些实施例中，所述多个子光源的形状包括圆形、方形、星形、三角形、菱形中至少两种。

在本实用新型的一些实施例中，所述多个子光源以阵列设置，所述阵列中形状不同的所述子光源相邻设置。

在本实用新型的一些实施例中，所述阵列为5×7阵列。

为了达到上述目的，本实用新型第二方面实施例的摄像头模组杂光检测系统，包括：上面任一项实施例所述的光源；杂光分析装置，与待测摄像头模组连接，用于获取所述待测摄像头模组采集的所述光源的光源图像，根据所述光源图像进行杂光分析。

根据本实用新型实施例的摄像头模组杂光检测系统，采用上面实施例的光源，其中包括有至少两种形状的多个子光源，在对摄像头模组杂光进行检测时，根据光源的形状可以追踪杂光发射的次数和起始点；以及，通过采用该光源可以通过光源图像分析即可自动实现摄像头杂光检测，无需手动干预，节省了测试和分析时间，提高测试效率。