[实用新型]过流监控电路和过流监控系统

说明书

本实用新型公开一种过流监控电路，包括控制模块、保险丝、状态反馈模块和输出切换模块，保险丝的第一端用于与供电电源电连接，第二端用于与测试主板的供电输入端电连接；状态反馈模块的供电监控端电连接保险丝的第二端，状态反馈模块的反馈输出端电连接控制模块的反馈信号接收端；输出切换模块的第一输入端用于与测试主板的测试信号输出端电连接，输出切换模块的第二输入端与控制模块的指示信号输出端电连接，输出切换模块的切换控制端与控制模块的控制信号端电连接，输出切换模块的输出端用于连接上位机。本实用新型还公开一种过流监控系统。本实用新型技术方案使测试人员能够根据测试输出结果知晓测试过程出现的短路异常，以及时做出处理。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种过流监控电路和过流监控系统。

背景技术

DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)芯片是内存的其中一种。目前DDR芯片的测试都是通过将DDR芯片安装到主板上进行主板测试。在主板上电测试时，如果DDR芯片的内部存在短路，就可能会导致测试的DDR芯片和测试主板烧毁，在无人监控时很难察觉，测试人员不能根据测试输出结果知晓该测试过程中是否出现了短路异常。

实用新型内容

本实用新型提供一种过流监控电路和过流监控系统，可以监控主板测试过程中发生的短路异常，使测试人员能够根据测试输出结果知晓测试过程出现的短路异常，以及时做出处理。

本实用新型提供的过流监控电路，包括控制模块、保险丝、状态反馈模块和输出切换模块，所述保险丝的第一端用于与供电电源电连接，第二端用于与测试主板的供电输入端电连接；所述状态反馈模块的供电监控端电连接所述保险丝的第二端，所述状态反馈模块的反馈输出端电连接所述控制模块的反馈信号接收端；

所述输出切换模块的第一输入端用于与所述测试主板的测试信号输出端电连接，所述输出切换模块的第二输入端与所述控制模块的指示信号输出端电连接，所述输出切换模块的切换控制端与所述控制模块的控制信号端电连接，所述输出切换模块的输出端用于连接上位机。

优选地，所述过流监控电路还包括信号转换模块，所述输出切换模块的第一输入端用于经信号转换模块连接所述测试信号输出端，所述输出切换模块的第二输入端经所述信号转换模块与所述控制模块的指示信号输出端电连接。

优选地，所述信号转换模块包括电平转换芯片和串口转换芯片，所述电平转换芯片的信号输入端用于电连接所述测试信号输出端，所述电平转换芯片的信号输出端电连接所述串口转换芯片的第一信号输入端，所述控制模块的指示信号输出端电连接所述串口转换芯片的第二信号输入端，所述串口转换芯片的第一信号输出端连接电连接所述输出切换模块的第一输入端，所述串口转换芯片的第二信号输出端连接电连接所述输出切换模块的第二输入端。

优选地，所述电平转换芯片为SN74LVC2G07芯片，所述SN74LVC2G07 芯片VCC引脚电连接1.85V电压，所述SN74LVC2G07芯片的2A引脚用于电连接所述测试信号输出端，所述SN74LVC2G07芯片的2Y引脚经一上拉电阻连接至一5V电压，所述SN74LVC2G07芯片的2Y引脚电连接所述串口转换芯片的第一信号输入端。

优选地，所述串口转换芯片为SP3232EEA芯片。

优选地，所述保险丝为自恢复保险丝。

优选地，所述状态反馈模块包括光耦、第一电阻和第二电阻，所述光耦的发光二极管的正极为所述状态反馈模块的供电监控端，所述光耦的发光二极管的负极经所述第一电阻接地；

所述光耦的光敏三极管的集电极用于电连接所述供电电源，所述光耦的光敏三极管的发射极为所述状态反馈模块的反馈输出端，所述光耦的光敏三极管的发射极经所述第二电阻接地；或，所述光耦的光敏三极管的集电极为状态反馈模块的反馈输出端，所述光耦的光敏三极管的集电极用于经所述第二电阻电连接所述供电电源，所述光耦的光敏三极管的发射极接地。