[实用新型]一种电容芯体测试盒及测试工作台

说明书

本实用新型提供了一种电容芯体测试盒，其能用于电容芯体的测试，同时还提供了使用该测试盒的测试工作台。其用于容纳电容芯体工艺条，电容芯体工艺条包括金属条和焊接在金属条上的电容芯体，测试盒包括用于容纳金属条的容纳腔一和用于容纳电容芯体的容纳腔二，容纳腔二内设有电容接触点，电容接触点与探针接触点通过导体连接，当电容芯体置于容纳腔二的内部时，电容接触点的位置与电容芯体的位置相对应，探针接触点上方敞开。

技术领域

本实用新型涉及电容测试技术领域，具体为一种电容芯体测试盒及测试工作台。

背景技术

在片式电解电容的生产过程中，需要对电容器芯体进行参数测试，以控制产品在生产过程中的品质，并且要求测试设备要能对不同尺寸规格的电容芯体都能进行兼容测试，更换不同尺寸的被测电容芯体时尽可能减少设备准备时间。

现有片式电解电容有两类，一种是钽电容块状芯体，一种是叠铝电容所需的铝箔芯体，这些电容芯体没有封装的外壳保护，通常比较脆弱，直接将所有探针压在电容芯体表面可能会损伤电容芯体，所以现有技术进行测试时，都是针对有封装的电容即成品电容对其电极（引脚）直接进行加压接触进行测试，无法满足上述在电容生产过程中对电容芯体进行参数测试，以控制产品在生产过程中的品质的要求。

实用新型内容

针对传统都是对封装电容进行测试的问题，本实用新型提供了一种电容芯体测试盒，其能用于电容芯体的测试，同时还提供了使用该测试盒的测试工作台。

其技术方案是这样的：一种电容芯体测试盒，其用于容纳电容芯体工艺条，所述电容芯体工艺条包括金属条和焊接在所述金属条上的电容芯体，其特征在于：测试盒包括用于容纳所述金属条的容纳腔一和用于容纳所述电容芯体的容纳腔二，所述容纳腔二内设有电容接触点，所述电容接触点与探针接触点通过导体连接，当所述电容芯体置于所述容纳腔二的内部时，所述电容接触点的位置与所述电容芯体的位置相对应，所述探针接触点上方敞开。

其进一步特征在于：

所述容纳腔二底部设有电路板，所述电容接触点和所述探针接触点位于所述电路板上；

所述电路板上设有长方体导体，所述电容接触点位于所述长方体导体的一端，所述探针接触点位于所述长方体导体的另一端；

所述容纳腔二内还设有凸块，用于分隔所述电容芯体。

一种测试工作台，其包括输送轨道、上下驱动机构、探针卡，所述上下驱动机构位于所述输送轨道上方，所述探针卡与所述上下驱动机构连接，通过所述上下驱动机构控制所述探针卡上下运动，所述探针卡上安装有探针，其特征在于：所述输送轨道上安装有上述电容芯体测试盒。

其进一步特征在于：

所述探针卡上对应每个电容芯体至少设有探针一、探针二、探针三和探针四，所述探针一和所述探针二与测试盒内的金属条位置相对应，所述探针三与所述电容芯体位置相对应，所述探针四与所述测试盒内的探针接触点位置相对应。

采用了这样的结构后，在测试时，电容芯体工艺条可以置入测试盒内，电容芯体工艺条的金属条位于容纳槽一内，电容芯体工艺条的电容芯体则位于容纳槽二内，电容芯体背面与电容接触点接触，当进行测试时，探针可以压覆在金属条和探针接触点上来对电容芯体进行测试，不需要将全部探针压覆在电容芯体上，有效减小了损伤电容芯体的可能性。

附图说明

图1为电容芯体工艺条和测试盒示意图；

图2为电容芯体工艺条置入测试盒后的示意图；

图3为探针板与测试盒位置关系示意图；

图4为探针压覆在测试盒时的示意图；

图5为测试工作台示意图。

具体实施方式