[实用新型]一种弹片针模组寿命老化装置

说明书

本实用新型旨在提供一种更好的模拟产品的真实测试过程，并且测试结果更具有优良性的弹片针模组寿命老化装置。本实用新型包括支撑块模组、电机模组、压头模组和测试模组，所述电机模组和所述测试模组均设于所述支撑块模组上，所述电机模组与所述压头模组传动连接，所述测试模组配合设于所述压头模组的下方。本实用新型应用于电子产品测试设备的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种电子产品测试设备的技术领域，特别涉及一种弹片针模组寿命老化装置。

背景技术

弹片针是在3C类电子产品测试方案中经常使用的小尺寸，高精度的探针模组，因此其使用寿命是否符合要求显得很重要，需要对其进行寿命老化验证，而目前主要采用PCB板直接与弹片针针尖接触进行测试，属于单点接触，不能模仿弹片针与产品的真实接触情况。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种更好的模拟产品的真实测试过程，并且测试结果更具有优良性的弹片针模组寿命老化装置。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括支撑块模组、电机模组、压头模组和测试模组，所述电机模组和所述测试模组均设于所述支撑块模组上，所述电机模组与所述压头模组传动连接，所述测试模组配合设于所述压头模组的下方。

进一步地，所述支撑块模组包括底板、配合设于所述压头模组下方的底座和沿竖直方向设置的立板，所述底座安装在所述底板上，所述底座上设有两呈并列结构设置的限位块，所述限位块与所述测试模组相配合设置。

进一步地，所述电机模组包括设于所述支撑块模组顶部上的驱动电机、设于所述驱动电机传动端的旋转块和与所述旋转块连接的鱼眼轴承，所述鱼眼轴承与所述压头模组相连接。

进一步地，所述压头模组包括与所述电机模组连接的连接块、设于所述连接块下方的压块、贯穿所述连接块并与所述压块相连接的限高螺钉、若干个均设于所述连接块与所述压块之间的弹簧和设于所述压块底部的压头，所述压头与所述测试模组相适配。

进一步地，所述测试模组包括设于所述支撑块模组上的安装块、设于所述安装块上的软排线件、与所述软排线件电信号连接的B2B连接器、设于所述安装块上的PCBA和与所述PCBA电信号连接的针块元器件，所述针块元器件通过若干个螺丝和定位销安装在所述PCBA上。

本实用新型具有以下有益效果：

一种弹片针模组寿命老化装置包括支撑块模组、电机模组、压头模组和测试模组，所述电机模组和所述测试模组均设于所述支撑块模组上，所述电机模组与所述压头模组传动连接，所述测试模组配合设于所述压头模组的下方，所以，本实用新型通过电机模组带动所述压头模组运动，使得所述压头模组靠近所述测试模组并与所述测试模组相接触，进而使得所述测试模组上的B2B连接器与弹片针多点接触测试，更好的模拟产品的真实测试过程，测试结果更具有优良性。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型另一角度的结构示意图；

图3是所述测试模组的结构示意图。

具体实施方式

如图1至图3所示，在本实施例中，本实用新型包括支撑块模组1、电机模组4、压头模组3和测试模组4，所述电机模组4和所述测试模组4均设于所述支撑块模组1上，所述电机模组4与所述压头模组3传动连接，所述测试模组4配合设于所述压头模组3的下方。

由上述方案可见，所述电机模组4安装在所述支撑块模组1的顶部上，所述电机模组4驱动所述压头模组3下移，使得所述压头模组3下移并与所述测试模组4相接触，即使得B2B和弹片针接触，测试回路导通，开始老化测试。