[实用新型]光电子器件测试设备

说明书

本申请提供一种光电子器件测试设备，包括主动轮、从动轮、传送带、顶部支撑装置、测试装置和传动部件。从动轮上连接有凸轮，传送带上设置有器件放置槽。顶部支撑装置设置在传送带的上方，顶部支撑装置上连接有第一纵向导杆和第二纵向导杆，测试装置可滑动地连接在纵向导杆上，测试装置底端设置有测试探针。传动部件包括滑动连接部和连接在滑动连接部的延伸部，滑动连接部连接在第二纵向导杆上，且滑动连接部和凸轮相抵接，延伸部末端设有推顶部。凸轮转动，能驱动传动部件升降运动，使得推顶部上推或下拉测试装置，以测试光电子器件。本申请的测试设备采用了凸轮传动机构，简化了设备结构，降低了成本，且提高了设备的可靠性。

技术领域

本申请涉及光电子器件测试技术领域，尤其是涉及一种光电子器件测试设备。

背景技术

光电子器件是光电子技术的关键和核心部件，是现代光电技术与微电子技术的前沿研究领域，是信息技术的重要组成部分。光电子器件是根据光电效应制作的器件。现有的光电子器件自动测试设备一般是设置传送机构和可升降的测试部件，传送机构传动电子元器件，测试部件升降运动，实现对途径的电子元器件的测试。现有技术中，传送机构和测试部件分别由不同的驱动装置驱动，如此需要在传送机构上设置位置传感器以感应位置信息，然后再控制测试部件的驱动机构执行驱动动作。现有的传送机构一般会选用步进电机驱动，步进电机行每行进一步，测试部件升降一次，整个设备的执行机构多，成本高昂，且工作效率低，设备稳定性一般。

实用新型内容

为解决上述问题，本申请提供一种光电子器件测试设备，采用了凸轮传动机构，简化了设备结构，降低了成本，且提高了设备的可靠性。

一种光电子器件测试设备，包括：

主动轮，所述主动轮和电机驱动连接；

从动轮，所述从动轮上连接有凸轮；

传送带，所述传送带套设在所述主动轮和所述从动轮上，所述传送带上沿传送带的长度方向上依次设置有多个器件放置槽；

顶部支撑装置，所述顶部支撑装置设置在所述传送带的上方，所述顶部支撑装置上连接有第一纵向导杆和第二纵向导杆，所述第一纵向导杆位于所述传送带上方，所述第二纵向导杆位于所述凸轮的上方；

测试装置，所述测试装置可滑动地连接在所述纵向导杆上，所述测试装置底端设置有测试探针；

传动部件，所述传动部件包括滑动连接部和连接在所述滑动连接部的延伸部，所述滑动连接部连接在所述第二纵向导杆上，且所述滑动连接部和所述凸轮相抵接，所述滑动连接部和所述顶部支撑装置之间设置有弹簧，所述延伸部末端设有推顶部；

所述凸轮转动，能驱动所述传动部件升降运动，使得所述推顶部上推或下拉所述测试装置，以测试光电子器件。

可选的，所述滑动连接部底部设置有滚轮，所述滚轮和所述凸轮的滚动面相接触。

可选的，所述测试装置包括座体和连接所述座体的测试部件，所述测试部件上设置有所述测试探针；所述座体具有滑槽，所述座体通过所述滑槽套设在所述第一纵向导杆上，所述座体设置有连接孔，所述座体上设置有延伸至所述连接孔上的避让槽，所述延伸部穿过所述避让槽，所述延伸部端部的推顶部位于所述连接孔内。

可选的，所述推顶部包括垂直连接所述延伸部的插接柱和设置在所述插接柱两侧的两个径向延伸部，两个所述径向延伸部分别限位在所述连接孔的两侧。

可选的，所述传送带上位于所述放置槽的周侧设置有定位柱，所述座体上沿所传送带的长度方向设置导杆，所述测试部件可滑动地连接在所述导杆上，且所述导杆上位于所述测试部件两侧均设置有弹簧，所述测试部件底部凸出设置有定位块，所述定位块下表面上开设有锥形槽，锥形槽和所述定位柱插接配合。

可选的，光电子器件测试设备还包括测试主机，所述测试装置和所述测试主机通过线缆电连接。