[实用新型]一种SEM及FIB检测分析用工作台

说明书

本实用新型公开了一种SEM及FIB检测分析用工作台，包括箱体，所述箱体下端固定连接有挡框，所述箱体的内部滑动连接有防护框，所述防护框的内底部固定连接有两组第一固定板，两组所述第一固定板的一端均固定连接有第一电动推杆，两组所述第一电动推杆远离第一固定板的一端固定连接有交叉升降架，所述交叉升降架的上端与箱体滑动连接，所述防护框的下端固定连接有若干组减震伸缩杆，所述减震伸缩杆的下端固定连接有底框，所述防护框的下端固定连接有两组固定座。本实用新型中，通过设置的第一电动推杆、第二固定板、交叉升降架，能够调节箱体与支撑板的高度，能够便于不同身材的人们使用。

技术领域

本实用新型涉及工作台领域，尤其涉及一种SEM及FIB检测分析用工作台。

背景技术

扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。FIB聚焦离子束是将离子源(大多数FIB都用Ga，也有设备具有He和Ne离子源)产生的离子束经过离子枪加速，聚焦后作用于样品表面。

现有的工作台SEM及FIB检测分析用工作台在使用时，由于工作台的高度较为固定，不便于一些特殊身材的人们使用，其次，现有的工作台SEM及FIB检测分析用工作台在使用时，保密能力较为单一，不便于一些机密文件的存放。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种SEM及FIB检测分析用工作台。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种SEM及FIB检测分析用工作台，包括箱体，所述箱体下端固定连接有挡框，所述箱体的内部滑动连接有防护框，所述防护框的内底部固定连接有两组第一固定板，两组所述第一固定板的一端均固定连接有第一电动推杆，两组所述第一电动推杆远离第一固定板的一端固定连接有交叉升降架，所述交叉升降架的上端与箱体滑动连接，所述防护框的下端固定连接有若干组减震伸缩杆，所述减震伸缩杆的下端固定连接有底框，所述防护框的下端固定连接有两组固定座，两组所述固定座的下端均转动连接有连接杆，两组所述连接杆的下端均转动连接有滑套，两组所述滑套的内部滑动连接有滑杆，所述滑杆的两侧均固定连接有第二固定板，所述滑杆的外表面设置有两组第二弹簧，两组所述第二固定板的下端与底框固定连接；

所述箱体的内部设置有收纳箱，所述收纳箱的正面固定连接有铰链，所述收纳箱通过铰链铰接有箱门，所述箱门的背面固定连接有安装座，所述安装座的后端固定连接有第二电动推杆，所述第二电动推杆的一端固定连接有卡杆，所述箱门的后端固定连接有第一套筒，所述第一套筒的内部设置有第一弹簧，所述第一套筒的内部滑动连接压块，所述收纳箱的内壁一侧固定连接有第二套筒，所述第二套筒与卡杆卡接，所述第二套筒的一端固定连接有压力感应器。

作为上述技术方案的进一步描述：

两组所述第二弹簧位于滑套的两侧，两组所述第二弹簧位于两组第二固定板之间。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底框的下端固定连接有四组万向轮，且四组万向轮均匀地分布在底框的下端面上。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的正面设置有三组抽屉，所述抽屉位于收纳箱的一侧。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述箱体的上端固定连接有支撑板。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述第二电动推杆位于第一套筒的一侧。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述底框与防护框滑动连接，所述压力感应器位于第二套筒与压块之间。