[实用新型]一种电连接器测试装置

说明书

本实用新型提供一种电连接器测试装置，该测试装置包括基座、压盖、限位座、测试电路板、探针、安放座，以及压盖。其中，测试电路板通过安放座压合配置于基座上，限位座安装在基座上且位于测试电路板的下方，探针则配置在测试电路板上且夹于测试电路板和安放座之间。在检测时，待测电路板把带有电连接器的部分放置于安放座上，压盖能够把电连接器压接在探针上。本申请的电连接器测试装置，其探针大致为呈L形的杆状体，探针成对相向布置于测试电路板上，电连接器能够被压接于成对布置的探针之间，让电连接器通过探针电连接于测试电路板上。本申请的电连接器测试装置，其探针不仅结构简单而且能够可靠的和电连接器相连接，具有很好的实用性。

技术领域

本实用新型涉及连接器测试装置技术领域，尤其涉及一种电连接器测试装置。

背景技术

电路板大都设置有用以和其他电路或者装置连接的电连接器，电连接器能够良好的工作会直接影响该电路板所对应电子产品的正常工作。因此，电路板上的电连接器需要进行相应的测试，以保证其能够正常工作。

现有技术中，这类用于检测电连接器测试装置，大都采用探针来电连接于待测电路板。这种探针包括针管和针头，针管和针头之间设置有弹簧。工作时，通过针管和针头的压缩接触，来实现电连接。但是这类探针不仅结构复杂成本高，而且针管和针头长期反复压缩接触，会导致弹簧失效，同时针管和针头之间也会相互磨损，最终导致探针损坏。

因此，目前急需一种结构简单且能够长期可靠工作的电连接器测试装置。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于克服上述现有技术的不足，而提供一种电连接器测试装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种电连接器测试装置，包括基座和压盖，所述基座上配置有测试电路板，该测试电路板设置有用以电接触的接触部，测试装置还包括至少一对相向布置的探针，该探针包括横向延伸的第一段，以及连接于所述第一段且向下延伸的第二段，且每一所述探针分别通过所述第一段电连接于所述接触部；所述压盖能够让待测电路板的电连接器，压接于一对所述第二段之间，以使所述电连接器电连接于所述测试电路板。

进一步地，测试装置还包括设置有限位孔的限位座，该限位座配置于所述基座且位于所述测试电路板的下方，所述第二段插置于所述限位孔。

进一步地，所述基座设置有安装槽，所述限位座安装且限位于所述安装槽。

进一步地，测试装置还包括设置有安放槽的安放座，所述安放槽用以限位所述待测电路板；所述安放座配置于所述基座，且使所述第一段夹于所述测试电路板和所述安放座之间。

进一步地，所述安放座设置有上下贯穿所述安放槽的通孔，所述电连接器能够穿过所述通孔以电连接于所述探针。

进一步地，所述压盖铰接于所述基座，所述压盖设置有压头，所述压盖向下铰接并压合于所述基座，能够带动所述压头压接于所述待测电路板且对应所述电连接器的位置。

进一步地，所述探针为大致呈L形的导电杆状体，所述第二段大致垂直于所述第一段。

进一步地，所述第一段和所述第二段为圆弧过渡。

进一步地，所述测试电路板设置有数量和所述探针相一致且一一对应的所述接触部，所述接触部为设置于所述测试电路板的条形导电区域。

进一步地，所述测试电路板设置有上下贯穿其的过孔，该过孔位于相向布置的所述探针之间，所述过孔用以供所述第二段向下延伸穿过。

由于采用了以上技术方案，本实用新型具有以下有益效果：