[实用新型]一种EFPI膜片方向性灵敏度提升装置

说明书

本实用新型涉及一种EFPI膜片方向性灵敏度提升装置，该装置安装在EFPI光纤传感器探头的膜片上，所述的提升装置包括质量块，该质量块安装在EFPI光纤传感器探头的膜片上，从而构成具有不同固有频率和响应灵敏度的新型膜片结构。与现有技术相比，本实用新型可在0‑180°超声波入射角范围内具有较一致的灵敏度响应特性，并可调节膜片的固有频率等优点。

技术领域

本实用新型涉及一种EFPI光纤传感器探头，尤其是涉及一种EFPI膜片方向性灵敏度提升装置。

背景技术

基于光纤耦合技术的光纤传感器，在电工设备局部放电(partial discharge,PD)超声波、光信号和脉冲电流检测中具有很好的应用前景。经过多年相关技术的发展和探索，采用非本征型法珀干涉仪(extrinsic Fabry-Perot interferometer,EFPI)光纤传感器法即EFPI光纤传感器，被广泛研究和应用于电工设备如变压器和气体绝缘组合电器等设备局部放电的超声波信号检测。EFPI光纤传感器原理及常用膜片结构见图1-4所示，其是一套使用敏感膜片结构将超声波转换为机械振动，再利用法珀干涉技术将机械振动转化为光学参量变化，最终被光电探测器等相关仪器转化、采集、解调的高性能声超波检测系统。但研究和实际工程表明，常规的平面膜片结构在方向性灵敏度有一定欠缺，在0-180°超声波入射角灵敏度响应上一致性差异较大。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种EFPI膜片方向性灵敏度提升装置，在膜片中心引入质量块结构，可在0-180°超声波入射角范围内具有较一致的灵敏度响应特性，并可调节膜片的固有频率。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

根据本实用新型的一个方面，提供了一种EFPI膜片方向性灵敏度提升装置，该装置安装在EFPI光纤传感器探头的膜片上，所述的提升装置包括质量块，该质量块安装在EFPI光纤传感器探头的膜片上，从而构成具有不同固有频率和响应灵敏度的新型膜片结构。

作为优选的技术方案，所述的质量块安装在膜片的中心位置。

作为优选的技术方案，所述的质量块为方台型结构。

作为优选的技术方案，所述的质量块包括一个质量块正面和四个质量块侧壁，该一个质量块正面和四个质量块侧壁构成超声波立体接受面。

作为优选的技术方案，所述的质量块侧壁为梯形结构。

作为优选的技术方案，所述的质量块为金字塔型结构。

作为优选的技术方案，所述的质量块包括四个三角形结构的质量块侧壁。

作为优选的技术方案，所述的质量块为棱柱型结构。

作为优选的技术方案，所述的质量块包括一个质量块正面和四个质量块侧壁。

作为优选的技术方案，所述的质量块侧壁为矩形结构。

本实用新型相比于平面膜片，采用尺寸较小且厚度较厚的质量块结构可以提高膜片的方向性灵敏度，即当不同方向的超声波作用于质量块侧壁时，质量块受到声压作用引起膜片变形，使EFPI光纤传感器探头腔长变化产生相应的光强变化，从而检测到更宽入射角范围即满足0-180°的超声信号。

附图说明

图1为EFPI光纤传感器的原理图；

图2为图1的A部放大图；

图3为常用膜片一的结构示意图；

图4为常用膜片二的结构示意图；

图5为实施例1的结构示意图；

图6为实施例2的结构示意图；

图7为实施例3的结构示意图。