[实用新型]一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡

说明书

本实用新型公开了一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡，包括绝缘电路板、一定数量的电阻，所述绝缘电路板外型为方形，其正面的边框与背面均做沉金处理，所述一定数量的电阻通过金属线相互串联，相互串联的所述电阻的首端通过金属线连接有一个方形的测试极一，其尾端通过金属线与绝缘电路板的边框相连，所述绝缘电路板的正面，位于测试极一的下方还设有一个方形的测试极二，所述测试极二通过金属线与绝缘电路板的边框相连，所述金属线、测试极一、测试极二均为通过沉金处理固定于绝缘电路板正面的金属，本实用新型不仅使晶体管特性图示仪的校准过程方便快捷易操作，能够节省时间，也能够节约委外校准的费用。

技术领域

本实用新型属于测试卡技术领域，具体地涉及一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡。

背景技术

晶体管特性图示仪，采用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并能测量其静态参数，为了达到精确测量的目的，晶体管特性图示仪每间隔一段时间，就需要进行校准，目前，公知的校准晶体管特性图示仪的方法，是通过委托第三方校准机构使用专业仪表对晶体管特性图示仪进行连接，比对仪表与晶体管特性图示仪的电压和电流读数进行校准。

但是，很多晶体管特性图示仪是固定式的，且在生产过程中使用率高，由于生产过程中每天都会使用其对晶圆的参数进行测量，无法满足委托第三方校准机构的方法进行校准，如果请校准机构的工程师上门校准，时间周期长，用工成本高。

实用新型内容

为克服上述现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡，可以通过内部校准的方式替代以前的委外校准方式，这种测试卡小巧、方便进出携带和使用。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡，包括绝缘电路板、一定数量的电阻，所述绝缘电路板外型为方形，其正面的边框与背面均做沉金处理，所述一定数量的电阻通过金属线相互串联，相互串联的所述电阻的首端通过金属线连接有一个方形的测试极一，其尾端通过金属线与绝缘电路板的边框相连，所述绝缘电路板的正面，位于测试极一的下方还设有一个方形的测试极二，所述测试极二通过金属线与绝缘电路板的边框相连，所述金属线、测试极一、测试极二均为通过沉金处理固定于绝缘电路板正面的金属。

优选地，所述一定数量的电阻的总阻值为500KΩ、3MΩ或者6MΩ。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型提供的电阻测试卡，外型小巧、方便进出携带和使用，完全替代以往的外委校准测试晶体管特性图示仪的方式，这种测试卡通过连接测试卡两极，即可对晶体管特性图示仪的图像进行校准，不仅使校准过程方便快捷易操作，能够节省时间，也能够节约委外校准的费用。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为实施例2的结构示意图；

图3为实施例3的结构示意图；

图中所示附图标记为：1-绝缘电路板、2-边框、3-测试极一、4-电阻、5-金属线、6-测试极二。

具体实施方式

以下结合附图对本设计方案进行详细说明。

如图1所示，一种用于校准晶体管特性图示仪的电阻测试卡，包括绝缘电路板1、一定数量的电阻4，其中绝缘电路板1外型为方形，其正面的边框2与背面均做沉金处理，一定数量的电阻4通过金属线5相互串联，相互串联的电阻4的首端通过金属线5连接有一个方形的测试极一3，其尾端通过金属线5与绝缘电路板1的边框2相连，绝缘电路板1的正面，位于测试极一3的下方还设有一个方形的测试极二6，测试极二6通过金属线5与绝缘电路板1的边框2相连，金属线5、测试极一3、测试极二6均为通过沉金处理固定于绝缘电路板1正面的金属。