[实用新型]一种测量激光器出光特性的装置

说明书

本实用新型公开了一种测量激光器出光特性的装置，包括测试台、位移组件、载具、基板和出光特性测试模块；位移组件移动设置于测试台上，载具安装在位移组件上，用于收集待测激光器激光的出光特性测试模块位于测试台的上方；载具具有复数个的定位槽，基板放置在定位槽中，基板上具有容纳面发射半导体激光器的第一槽位和容纳边发射半导体激光器的第二槽位，面发射半导体激光器和边发射半导体激光器的出光测试方向相同。本实用新型实现了不同方向出光的激光器，共用一套测试设备，满足了测试兼容性的要求。

技术领域

本实用新型涉及激光器测试的技术领域，特指一种测量激光器出光特性的装置。

背景技术

半导体激光器的特性测试主要的参数指标是出光特性的测量，从中可以测试出很多重要的参数比如出光功率、斜效率和阈值电流等。目前半导体激光器按照出光方向相对于本身的结构分类主要有面（垂直）发射半导体激光器和边（水平）发射半导体激光器，由于两种半导体激光器的出光方向不一致，所以需要采用不同的测试设备对齐进行分别测试。没有合适的出光特性测试设备能同时满足面发射和边发射半导体激光器的兼容，因此，本发明人对此做进一步研究。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种测量激光器出光特性的装置，实现不同方向出光的激光器，共用一套测试设备，满足了测试兼容性的要求。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术解决方案是：

一种测量激光器出光特性的装置，包括测试台、位移组件、载具、基板和出光特性测试模块；位移组件移动设置于测试台上，载具安装在位移组件上，用于收集待测激光器激光的出光特性测试模块位于测试台的上方；载具具有复数个的定位槽，基板放置在定位槽中，基板上具有容纳面发射半导体激光器的第一槽位和容纳边发射半导体激光器的第二槽位，面发射半导体激光器和边发射半导体激光器的出光测试方向相同。

进一步，基板具有顶面和侧面，第一槽位位于基板的顶面，第二槽位位于基板的侧面。

进一步，还包括转轴，转轴穿设在基板中，转轴的两端固定在定位槽的侧壁上，基板具有顶面和底面，基板上的第一槽位和第二槽位分别位于基板的顶面和底面。

进一步，出光特性测试模块包含光探测器或者积分球。

进一步，还包括移动机构，出光特性测试模块安装在移动机构上。

进一步，基板具有顶面，第一槽位与第二槽位均位于基板顶面。

由于面发射半导体激光器和边发射半导体激光器的出光方向不一致，要求出光特性测试模块和载具的相对位置需要改变，本实用新型通过将边发射半导体激光器的出光方向偏转90°，保持和面发射半导体激光器的出光方向一致，从而无需更改其他设计或者采用额外的测试设备进行测试，可实现同时检测面发射半导体激光器和边发射半导体激光器的兼容性。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型载具的示意图；

图3是本实用新型实施例一放置待测激光器后基板的正视图；

图4是本实用新型实施例一放置待测激光器后基板的俯视图；

图5是本实用新型实施例一基板的剖视图；

图6是本实用新型实施例二放置待测激光器后基板的正视图；

图7是本实用新型实施例二放置待测激光器后基板的俯视图；

图8是本实用新型实施例二放置待测激光器后基板的仰视图；

图9是本实用新型实施例二基板的剖视图。

标号说明