[实用新型]一种通用激光扫描测量支架结构有效

专利信息
申请号: 202120330216.X 申请日: 2021-02-05
公开(公告)号: CN214121075U 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 张涛;徐思晗 申请(专利权)人: 上海日晗精密机械股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01D11/30
代理公司: 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 代理人: 方燕娜;王雯婷
地址: 201708 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 通用 激光 扫描 测量 支架 结构
【说明书】:

本实用新型涉及机械技术领域,具体地说是一种通用激光扫描测量支架结构。测量支架导轨一和测量支架导轨二安装在测量支架基座上,扫描支架一和扫描支架二安装在测量支架导轨一上,扫描支架三和扫描支架四安装在测量支架导轨二上,扫描支撑件一、扫描支撑件二、扫描支撑件三、扫描支撑件四分别依次安装在扫描支架一、扫描支架二、扫描支架三和扫描支架四的顶部。本实用新型同现有技术相比,解决了没有专用的扫描支架的问题,特别是通过正方体基座保证支架稳定,导轨交叉安装在测试支架基座四角,支架活动安装在测量支架导轨上,可以对不同形状、尺寸、复杂表面的物体进行全方位和灵活的定位,使整个测量过程方便,稳定满足多种扫描测量定位需求。

技术领域

本实用新型涉及机械技术领域,具体地说是一种通用激光扫描测量支架结构。

背景技术

原有的扫描没有专用的扫描支架,通常是在桌面上,或临时拼凑的支撑块上进行,根据被扫描的物件结构或扫描结果需求来临时寻找身边的工具应对,费时且不专业。

因此,需要设计一种通用激光扫描测量支架结构,能对复杂曲面的钣金件、塑料件,以及其它加工件提供灵活的定位,测量过程操作方便,稳定满足多种扫描测量定位要求。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足,提供了一种通用激光扫描测量支架结构,能对复杂曲面的钣金件、塑料件,以及其它加工件提供灵活的定位。

为了达到上述目的,本实用新型提供一种通用激光扫描测量支架结构,包含测量支架基座、测量支架导轨一、测量支架导轨二、扫描支架一、扫描支架二、扫描支架三、扫描支架四、连接件、扫描支撑件一、扫描支撑件二、扫描支撑件三、扫描支撑件四,测量支架导轨一和测量支架导轨二安装在测量支架基座上,扫描支架一和扫描支架二安装在测量支架导轨一上,扫描支架三和扫描支架四安装在测量支架导轨二上,扫描支撑件一、扫描支撑件二、扫描支撑件三、扫描支撑件四分别依次安装在扫描支架一、扫描支架二、扫描支架三和扫描支架四的顶部。

扫描支撑件一、扫描支撑件二、扫描支撑件三、扫描支撑件四头部为磁吸头或橡胶头,且可以替换使用。

扫描支撑件一与扫描支架一、扫描支撑件二与扫描支架二、扫描支撑件三与扫描支架三、扫描支撑件四与扫描支架四之间通过连接件连接。

测量支架导轨一和测量支架导轨二交叉安装在测量支架基座上,测量支架导轨一和测量支架导轨二的两端分别位于测量支架基座的四角。

扫描支架一、扫描支架二与测量支架导轨一之间、扫描支架三、扫描支架四与测量支架导轨二之间采用滑块连接,两个滑块安装在测量支架导轨一或测量支架导轨二上,扫描支架一、扫描支架二、扫描支架三、扫描支架四分别穿过对应的滑块并采用螺栓固定。

测量支架基座为四脚正方体结构,测量支架基座上方顶部通过一体式横梁形成正方形,且最顶部保持同一水平。

本实用新型同现有技术相比,解决了原有的扫描没有专用的扫描支架的问题,特别是通过正方体测试支架基座保证支架稳定,测量支架导轨交叉安装在测试支架基座四角并且扫描支架活动安装在测量支架导轨上,可以对不同形状、尺寸、复杂表面的物体进行全方位和灵活的定位,使整个测量过程方便,稳定满足多种扫描测量定位需求。

附图说明

图1为本实用新型的主视图。

图2为本实用新型的俯视图。

附图标记说明:1为测量支架基座,2为测量支架导轨一,3为测量支架导轨二,4为扫描支架一,5为扫描支架二,6为扫描支架三,7为扫描支架四,8为扫描支撑件一,9为扫描支撑件二,10为扫描支撑件三,11为扫描支撑件四,12为滑块。

具体实施方式

现结合附图对本实用新型做进一步描述。

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