[实用新型]一种微电路屏幕显示芯片的测试装置

权利要求书

1.一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，包括支撑腿(1)、工作台(2)、下支撑板(3)、上支撑板(4)、固定栓(5)、连接杆(6)、挤压块(8)、第一挡板(10)、第二挡板(13)和第一连接插块(14)，其特征在于，所述支撑腿(1)的上端设置有工作台(2)，所述工作台(2)的上端设置有下支撑板(3)，所述下支撑板(3)的上端设置有上支撑板(4),所述上支撑板(4)的表面设置有固定栓(5)，所述固定栓(5)的一端设置有连接杆(6)，所述连接杆(6)的一端设置有拉杆(7)，所述拉杆(7)的一端设置有挤压块(8)，所述挤压块(8)的上端设置有橡胶把手套(9)，所述橡胶把手套(9)的下端设置有第一挡板(10)，所述第一挡板(10)的一端设置有传感线(11)，所述传感线(11)的一端设置有芯片槽(12)，所述芯片槽(12)的一端设置有第二挡板(13)，所述第二挡板(13)的一端设置有第一连接插块(14),所述第一连接插块(14)的一端设置有第一金属感应片(15)，所述第一金属感应片(15)的一端设置有第一检测板(16),所述第一检测板(16)的一端设置有第二检测板(17)，所述第二检测板(17)的一端设置有第二金属感应片(18)，所述第二金属感应片(18)的一端设置有第二连接插块(19)，所述第二连接插块(19)的上端设置有盖板(20)。

2.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述支撑腿(1)整体呈现圆柱体结构，所述支撑腿(1)的高为15.5cm—20.5cm，所述支撑腿(1)的宽度为6.5cm—9.55cm，所述支撑腿(1)整体采用不锈钢材质制作而成，且所述支撑腿(1)的表面涂有一层防腐油漆。

3.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述工作台(2)整体呈现长方体结构，所述工作台(2)的长度为155cm—160cm，所述工作台(2)的宽度为60.5cm—65.55cm，所述工作台(2)的高度为3.3cm—4.4cm，所述工作台(2)整体采用铁材质制作而成。

4.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述下支撑板(3)整体呈现长方体结构，所述下支撑板(3)的长度为75cm—80cm，所述下支撑板(3)的宽度为40cm—45cm，所述下支撑板(3)的高度为3.55cm—4.5cm，所述下支撑板(3)整体采用铁材质制作而成。

5.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述连接杆(6)的一端与拉杆(7)活动相连接，所述连接杆(6)的另一端与挤压块(8)活动相连接，所述连接杆(6)整体采用铁材质制作而成。

6.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述拉杆(7)的一端与固定栓(5)活动相连接，所述拉杆(7)的另一端与连接杆(6)活动相连接，所述拉杆(7)整体采用铁材质制作而成。

7.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述第一连接插块(14)与芯片槽(12)的一端固定相连接，所述第一连接插块(14)与第二挡板(13)的一端固定相连接，所述第一连接插块(14)整体采用铁材质制作而成的铁片。

8.根据权利要求1所述的一种微电路屏幕显示芯片的测试装置，其特征在于，所述第一检测板(16)的下端与第一金属感应片(15)固定相连接，所述第一检测板(16)的另一端与第二检测板(17)固定相连接，所述第一检测板(16)整体外部采用塑料材质制作而成。