[实用新型]一种半导体检测用工作台有效
申请号: | 202120277694.9 | 申请日: | 2021-02-01 |
公开(公告)号: | CN214278263U | 公开(公告)日: | 2021-09-24 |
发明(设计)人: | 杜浩晨;王光辉 | 申请(专利权)人: | 陕西开尔文测控技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 王营超 |
地址: | 710086 陕西省西安市*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 检测 用工 | ||
1.一种半导体检测用工作台,包括支撑台(1),其特征在于:所述支撑台(1)的底部固定连接有固定支腿(2),所述支撑台(1)的一侧开设有收纳槽(3),所述收纳槽(3)的内壁活动连接有收纳盒(4),所述收纳盒(4)的一侧固定连接有握把(5),所述支撑台(1)的顶部固定连接有防护板(6),所述支撑台(1)的顶部固定连接有放置座(7),所述放置座(7)的内侧壁活动连接有检测台(9),所述放置座(7)的一侧开设有螺纹孔(10);
所述螺纹孔(10)的内壁活动连接有螺纹轴(11),所述螺纹轴(11)的一端固定连接有摇盘(12),所述螺纹轴(11)的另一端活动连接有固定块(13),所述固定块(13)的一侧固定连接有活动轴承(14),所述固定块(13)的另一侧固定连接有防护垫(15)。
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述固定支腿(2)的数量为四个,且每两个固定支腿(2)为一组,且两组固定支腿(2)以支撑台(1)的中垂线为对称轴对称设置。
3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述收纳槽(3)的形状大小与收纳盒(4)的形状大小均相互匹配,且支撑台(1)通过收纳槽(3)与收纳盒(4)活动连接,且收纳盒(4)的中垂线与支撑台(1)的中垂线重合。
4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述防护板(6)的形状大小与支撑台(1)的形状大小均相互匹配,且防护板(6)的中垂线与支撑台(1)的中垂线重合。
5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述放置座(7)的内侧壁固定连接有防护层(8),且防护层(8)为橡胶防护层,且放置座(7)通过防护层(8)与检测台(9)活动连接。
6.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述螺纹轴(11)通过螺纹孔(10)贯穿放置座(7)的一侧并延伸至放置座(7)的内侧壁,且放置座(7)通过螺纹孔(10)与螺纹轴(11)活动连接。
7.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述活动轴承(14)的形状大小与螺纹轴(11)的形状大小均相互匹配,且螺纹轴(11)通过活动轴承(14)与固定块(13)活动连接。
8.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述防护垫(15)为橡胶防护垫,且固定块(13)通过防护垫(15)与检测台(9)活动连接。
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