[实用新型]一种半导体检测用工作台

权利要求书

1.一种半导体检测用工作台，包括支撑台（1），其特征在于：所述支撑台（1）的底部固定连接有固定支腿（2），所述支撑台（1）的一侧开设有收纳槽（3），所述收纳槽（3）的内壁活动连接有收纳盒（4），所述收纳盒（4）的一侧固定连接有握把（5），所述支撑台（1）的顶部固定连接有防护板（6），所述支撑台（1）的顶部固定连接有放置座（7），所述放置座（7）的内侧壁活动连接有检测台（9），所述放置座（7）的一侧开设有螺纹孔（10）；

所述螺纹孔（10）的内壁活动连接有螺纹轴（11），所述螺纹轴（11）的一端固定连接有摇盘（12），所述螺纹轴（11）的另一端活动连接有固定块（13），所述固定块（13）的一侧固定连接有活动轴承（14），所述固定块（13）的另一侧固定连接有防护垫（15）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述固定支腿（2）的数量为四个，且每两个固定支腿（2）为一组，且两组固定支腿（2）以支撑台（1）的中垂线为对称轴对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述收纳槽（3）的形状大小与收纳盒（4）的形状大小均相互匹配，且支撑台（1）通过收纳槽（3）与收纳盒（4）活动连接，且收纳盒（4）的中垂线与支撑台（1）的中垂线重合。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述防护板（6）的形状大小与支撑台（1）的形状大小均相互匹配，且防护板（6）的中垂线与支撑台（1）的中垂线重合。

5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述放置座（7）的内侧壁固定连接有防护层（8），且防护层（8）为橡胶防护层，且放置座（7）通过防护层（8）与检测台（9）活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述螺纹轴（11）通过螺纹孔（10）贯穿放置座（7）的一侧并延伸至放置座（7）的内侧壁，且放置座（7）通过螺纹孔（10）与螺纹轴（11）活动连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述活动轴承（14）的形状大小与螺纹轴（11）的形状大小均相互匹配，且螺纹轴（11）通过活动轴承（14）与固定块（13）活动连接。

8.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台，其特征在于：所述防护垫（15）为橡胶防护垫，且固定块（13）通过防护垫（15）与检测台（9）活动连接。