[实用新型]一种半导体检测用工作台有效

专利信息
申请号: 202120277694.9 申请日: 2021-02-01
公开(公告)号: CN214278263U 公开(公告)日: 2021-09-24
发明(设计)人: 杜浩晨;王光辉 申请(专利权)人: 陕西开尔文测控技术有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 王营超
地址: 710086 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 用工
【权利要求书】:

1.一种半导体检测用工作台,包括支撑台(1),其特征在于:所述支撑台(1)的底部固定连接有固定支腿(2),所述支撑台(1)的一侧开设有收纳槽(3),所述收纳槽(3)的内壁活动连接有收纳盒(4),所述收纳盒(4)的一侧固定连接有握把(5),所述支撑台(1)的顶部固定连接有防护板(6),所述支撑台(1)的顶部固定连接有放置座(7),所述放置座(7)的内侧壁活动连接有检测台(9),所述放置座(7)的一侧开设有螺纹孔(10);

所述螺纹孔(10)的内壁活动连接有螺纹轴(11),所述螺纹轴(11)的一端固定连接有摇盘(12),所述螺纹轴(11)的另一端活动连接有固定块(13),所述固定块(13)的一侧固定连接有活动轴承(14),所述固定块(13)的另一侧固定连接有防护垫(15)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述固定支腿(2)的数量为四个,且每两个固定支腿(2)为一组,且两组固定支腿(2)以支撑台(1)的中垂线为对称轴对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述收纳槽(3)的形状大小与收纳盒(4)的形状大小均相互匹配,且支撑台(1)通过收纳槽(3)与收纳盒(4)活动连接,且收纳盒(4)的中垂线与支撑台(1)的中垂线重合。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述防护板(6)的形状大小与支撑台(1)的形状大小均相互匹配,且防护板(6)的中垂线与支撑台(1)的中垂线重合。

5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述放置座(7)的内侧壁固定连接有防护层(8),且防护层(8)为橡胶防护层,且放置座(7)通过防护层(8)与检测台(9)活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述螺纹轴(11)通过螺纹孔(10)贯穿放置座(7)的一侧并延伸至放置座(7)的内侧壁,且放置座(7)通过螺纹孔(10)与螺纹轴(11)活动连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述活动轴承(14)的形状大小与螺纹轴(11)的形状大小均相互匹配,且螺纹轴(11)通过活动轴承(14)与固定块(13)活动连接。

8.根据权利要求1所述的一种半导体检测用工作台,其特征在于:所述防护垫(15)为橡胶防护垫,且固定块(13)通过防护垫(15)与检测台(9)活动连接。

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