[实用新型]一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统有效

专利信息
申请号: 202120270164.1 申请日: 2021-01-29
公开(公告)号: CN214952923U 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 罗四维;张子进;刘茜;陈旭;李珍珠;赵全超;管让锞 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14;G01B11/24;G01N21/64;G01Q60/24;G01Q20/02
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 叶敏华
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 emccd afm 检测 成像 系统
【权利要求书】:

1.一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,包括载物台(1)、荧光成像模块和AFM成像模块;

所述载物台(1)用于放置待检测的样品(101),所述样品(101)为染色样品;

所述荧光成像模块包括第一物镜(21)、激发光源(22)、过滤组块和第一EMCCD探测器(24),所述第一物镜(21)设于载物台(1)的下方,所述激发光源(22)用于发射激发光,所述过滤组块设于第一物镜(21)下方,包括激发滤光片(231)、二向色镜(232)和发射滤光片(233),所述二向色镜(232)与激发滤光片(231)之间的夹角等于二向色镜(232)与发射滤光片(233)之间的夹角,且激发滤光片(231)和发射滤光片(233)互不平行;所述激发滤光片(231)设于激发光源(22)的发射光路上,用于过滤激发光,所述发射滤光片(233)设于二向色镜(232)的下方,用于过滤样品(101)的发射光;

所述AFM成像模块包括第一激光器(31)、第二激光器(6),所述第一激光器(31)输出第一激光,第一激光的出射光路上包括依次设置的会聚透镜(32)、第一偏振分光棱镜(33),所述第一偏振分光棱镜(33)的反射光路上包括第二EMCCD探测器(35),所述第一偏振分光棱镜(33)的透射光路上包括依次设置的四分之一波片(34)和低通二向色镜(41),所述低通二向色镜(41)的反射光路上包括高通二向色镜(42),所述高通二向色镜(42)的透射光路上包括第二偏振分光棱镜(43),所述第二偏振分光棱镜(43)的反射光路上包括相机(5),所述第二偏振分光棱镜(43)的透射光路上包括依次设置的第二物镜(44)和微悬臂梁(45);所述第二激光器(6)输出第二激光,第二激光的出射光路上包括高通二向色镜(42),所述高通二向色镜(42)的反射光路上包括依次设置的第二偏振分光棱镜(43)、第二物镜(44)和微悬臂梁(45);

所述微悬臂梁(45)设于载物台(1)的上方,微悬臂梁(45)上设有探针(46),所述探针(46)和样品(101)被配置为在一定距离内相互作用并使微悬臂梁(45)发生形变。

2.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述激发光源(22)为汞泵光源。

3.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述激发滤光片(231)用于将激发光过滤为样品激发光,所述样品激发光的波长与染色样品的染料的吸收峰相匹配。

4.根据权利要求3所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,染料的吸收峰为490~495nm,激发光的波长为490nm,样品的发射光为525~530nm,二向色镜被配置为反射波长500nm以下的光、透射波长500nm以上的光,所述发射滤光片被配置为截止波长520nm以下的光、透射波长520nm以上的光。

5.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,二向色镜(232)与激发滤光片(231)之间的夹角为45°,二向色镜(232)与发射滤光片(233)之间的夹角为45°。

6.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述荧光成像模块和AFM成像模块的光路上设有挡板。

7.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述载物台(1)为微纳米位移载物台。

8.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述微悬臂梁(45)为长100~500μm、厚500nm~5μm的硅片或氮化硅片。

9.根据权利要求8所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述微悬臂梁(45)的长度、厚度是根据样品(101)和AFM成像模块的工作方式决定的。

10.根据权利要求1所述的一种基于EMCCD和AFM的检测成像系统,其特征在于,所述低通二向色镜(41)与四分之一波片(34)之间的夹角为45°,低通二向色镜(41)和高通二向色镜(42)相互平行。

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