[实用新型]一种内存芯片测试治具

权利要求书

1.一种内存芯片测试治具，其特征在于：包括芯片测试主板、用于固定所述芯片测试主板的主板固定夹具以及用于压紧待测内存芯片的若干芯片夹扣，所述的芯片测试主板包括主板本体和设在主板本体一侧的金手指部，所述的主板本体固定在所述主板固定夹具内，所述的金手指部向外伸出所述主板固定夹具，所述主板本体的至少一面沿长度方向间隔设置有若干块芯片探针，所述主板固定夹具在每一块芯片探针对应的位置上开设有用于容置待测试内存芯片的容置槽，所述芯片夹扣的一端与所述主板固定夹具铰接，另一端通过锁扣件与所述主板固定夹具扣合连接。

2.如权利要求1所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述主板固定夹具在靠近金手指部的一侧开设有锁扣槽，所述芯片夹扣的一端通过第一扭簧与所述主板固定夹具远离金手指部的一侧相连接，所述的锁扣件包括用于卡入所述锁扣槽内的锁扣片、与所述锁扣片的内侧面相抵接的推杆以及用于驱动所述推杆前后移动以实现锁扣片解锁的按压块，所述的锁扣片通过第二扭簧安装于芯片夹扣远离第一扭簧的一端，锁扣片的内侧设有卡钩，所述的按压块通过转轴安装在所述芯片夹扣顶部并与所述推杆相抵接。

3.如权利要求2所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述的按压块包括一体成型的按压部和旋转部，所述的按压部穿过所述芯片夹扣并与所述推杆的一端相抵接，所述旋转部设在所述按压部靠近锁扣片一侧端面的上部，所述旋转部上开设有供所述转轴穿过的通孔。

4.如权利要求2所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述芯片夹扣的底部的左右两侧各设有一个用于压紧待测内存芯片的压紧块，所述的压紧块与所述容置槽一一对应设置。

5.如权利要求4所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述压紧块的底部套设有缓冲橡胶块。

6.如权利要求2所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述芯片夹扣的底部固设有一导向座，所述的导向座上开设有供所述推杆穿过的导向孔。

7.如权利要求1所述的一种内存芯片测试治具，其特征在于：所述主板本体每一面上的芯片探针数量为8个或9个。