[实用新型]一种PCB双面测试探针台

说明书

本实用新型涉及一种PCB双面测试探针台。包括隔振基台，隔振基台中央设置有PCB夹具，PCB夹具下方吸附有下探针机构和下显微镜机构，PCB夹具上方分别设置有可沿X轴和Y轴方向移动的上显微镜机构和上探针机构。本实用新型基台采用具备隔振功能的光学基台，有效避免振动造成的测试偏差。通过上显微镜机构和下显微镜机构，可对PCB的正面和背面进行双面观测，通过上探针机构和下探针机构，可对PCB的正面和背面进行双面探针测试，解决了PCB板尺寸增加以及多层化带来的测试难题。而且上显微镜机构和上探针机构可沿X轴和Y轴方向的运动，可快速的实现PCB板的定位和测试。下探针机构和下显微镜机构均设置有磁吸底座，使用更方便，而且不易偏移。

技术领域

本实用新型涉及电路测试技术领域，具体涉及一种PCB双面测试探针台。

背景技术

5G时代的到来，无线信号将向更高频段延伸，由于基站覆盖区域与通信频率成反比，基站密度和移送数据计算量会大幅提升。目前行业预测5G基站数量将会达到4G时代的2倍，此外还有约10倍数量的小基站用于解决弱覆盖以及覆盖盲点的问题。用于5G基站天线的高频PCB的用量将会是4G的数倍。

4G基站用到PCB主要分为天线系统、RRU和BBU，4G基站RRU用到的PCB板尺寸在60*40mm-200*160mm范围内，BBU所用PCB板尺寸在300*200mm左右。不同于4G基站，5G基站结构有所改变，BBU被拆分成CU、DU，天线和RRU被集成在AAU中，AAU 里面包含天线系统(振子馈电网络)、收发单元(DSP；DAC/ADC；PA；LNA；Filter等器件)，其中振子(自身含PCB材质)集成在一块PCB(含馈电网络)上，收发单元的面积主要以PA和TRX 两块PCB为主，其中PA板集成在TRX板上。天线底板尺寸约400*750mm，TRX板尺寸约为400*750mm。PA板集成在TRX上，共有4块，每块尺寸约150*180mm。BBU尺寸与4G 相差不大，尺寸在480*300mm左右。5G基站用到的PCB板尺寸更大、层数更多，价格也随之呈现几何增长。PCB板尺寸的增大对于测试来说已经变成一项较大的挑战，而且在现有的技术中缺少对PCB进行探针双面测试的设备。现有对大尺寸的双面PCB板测试和观察仍采用人工为主，先对一面进行定位和测试，在通过人工翻转对另一面进行定位和测试。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题是提供一种可对PCB进行探针双面观察和测试的双面测试探针台。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种PCB双面测试探针台，包括隔振基台，所述隔振基台中央设置有PCB夹具，所述PCB 夹具下方吸附有下探针机构和下显微镜机构，所述PCB夹具上方分别设置有可沿X轴和Y轴方向移动的上显微镜机构和上探针机构。

进一步地，所述隔振基台四周分别设置有第一滑轨和第二滑轨，所述第一滑轨沿Y轴方向设置在所述PCB夹具左右两侧形成Y轴滑轨，所述第二滑轨沿X轴方向设置在所述PCB夹具前后两侧形成X轴滑轨；所述Y轴滑轨上通过滑块配合滑动设置有显微镜桥架，所述显微镜桥架上方沿X轴方向设置有第三滑轨，所述第三滑轨上滑动设置有所述上显微镜机构；所述X轴滑轨上滑动设置有若干探针桥架，所述探针桥架上方沿Y轴方向设置有第四滑轨，所述第四滑轨上滑动设置有若干上探针台，所述上探针机构吸附在所述上探针台上。

进一步地，所述显微镜桥架与所述Y轴滑轨之间设置有滚珠丝杠和调节旋钮，所述显微镜桥架与所述上显微镜机构之间也设置有滚珠丝杠和调节旋钮。

进一步地，所述下探针机构和所述上探针机构均包括磁吸底座，所述磁吸底座上方固定有XYZ轴定位台，所述XYZ轴定位台前端固定有转接板、并驱动所述转接板沿XYZ轴三轴方向运动定位，所述转接板前端通过探针旋转杆转动连接有探针组件，所述转接板上还设置有旋转微分头，所述旋转微分头驱动所述探针旋转杆转动。