[实用新型]一种测试弹片模组

说明书

本实用新型公开了一种测试弹片模组，包括固定框；所述固定框的中部设置有矩形通孔；所述矩形通孔内装配有弹片模组安装主体；所述弹片模组安装主体上设置有多个安装胶槽；每一安装胶槽上对应安装有测试弹片；所述测试弹片包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；所述接触头部与所述受力弯曲部的一端连接；所述受力弯曲部的另一端与所述连接尾部连接；所述接触头部穿出所述弹片模组安装主体后与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试，本实用新型结构简单，使用方便，可靠性高，弹片模组的使用寿命比微针的使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本，具有良好的经济效益。

技术领域

本实用新型涉及测试仪器技术领域，特别地是一种测试弹片模组。

背景技术

手机和半导体设备等电子产品的接器模组测试一般通过微针连接测试，微针是由针头、弹簧、针管组成，由精密设备制造形成，内部结构精密，表面镀金，广泛应用至手机等电子产品和半导体设备，如LCD、LCM、摄像头的FPC/BTB connector连接器模组测试。由于微针制造、装配工艺复杂和分段式结构，导致成本高，寿命短，测试结果有误差，在使用过程中需经常更换，不便于维护。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提出一种可靠性高，使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本的测试弹片模组。

本实用新型通过以下技术方案实现的：

一种测试弹片模组，包括固定框；其中：所述固定框的中部设置有矩形通孔；所述矩形通孔内装配有弹片模组安装主体；所述弹片模组安装主体上设置有多个安装胶槽；每一安装胶槽上对应安装有测试弹片；所述测试弹片包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；所述接触头部与所述受力弯曲部的一端连接；所述受力弯曲部的另一端与所述连接尾部连接；所述接触头部穿出所述弹片模组安装主体后与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试。

进一步地，所述接触头部的下端设置有弹片排气孔。

进一步地，所述接触头部为锯齿状接触头部。

进一步地，所述受力弯曲部包括第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部；所述第一折弯部、第二折弯部和第三折弯部依次连接。

进一步地，所述连接尾部设置有连接口；所述连接口的一端直径小于另一端直径。

进一步地，所述测试弹片采用精密模具一体制作而成。

进一步地，所述固定框的左右两端设置有安装孔。

进一步地，所述矩形通孔的上方设置有凸台；所述接触头部的上端伸出于所述凸台的上端面。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过设置固定框，固定框的中部设置有矩形通孔；所述矩形通孔内装配有弹片模组安装主体；弹片模组安装主体上设置有多个安装胶槽；每一安装胶槽上对应安装有测试弹片；测试弹片包括接触头部、受力弯曲部和连接尾部；接触头部与受力弯曲部的一端连接；受力弯曲部的另一端与连接尾部连接；接触头部与测试产品接触，经所述受力弯曲部承受压力后，由所述连接尾部与测试仪器连接进行测试。测试产品需要测试时，先将测试产品与接触头部接触，测试产品经由受力弯曲部承受压力后，再通过连接尾部与测试仪器连接，完成测试。本实用新型结构简单，使用方便，可靠性高，弹片模组的使用寿命比微针的使用寿命长，可大批量生产，大大降低生产成本，具有良好的经济效益。

附图说明

图1为本实用新型实施例测试弹片模组立体结构示意图；

图2为本实用新型实施例测试弹片立体结构示意图；

图3为本实用新型实施例固定框立体结构示意图；

图4为本实用新型实施例固定框俯视图；