[实用新型]一种PCT老化试验箱

说明书

本实用新型提供一种PCT老化试验箱，包括装置本体，所述装置本体底部设置有前后方向的承载推拉板，且承载推拉板左右两侧顶部和底部端面均通过螺钉固定安装有前后方向的限位固定板；所述限位固定板和承载推拉板之间均限位安装有五处前后有序排列的接触滚动球，且承载推拉板顶部端面限位安装有前后方向的承载放置架；所述承载放置架顶部内部插入安装有三处上下排列前后方向的放置承载板。承载推拉板的设置，方便承载放置架限位放置在顶部进行承载，方便限位安装在PCT老化试验箱腔内部导向槽中间进行推拉，方便通过接触滚动球与PCT老化试验箱腔内部导向槽接触减少摩擦力，解决了推拉过程中面接触摩擦力较大容易卡顿磨损损坏的问题。

技术领域

本实用新型属于PCT老化试验箱技术领域，尤其涉及一种PCT老化试验箱。

背景技术

PCT老化箱，又名PCT高压加速老化试验机，主要是测试半导体封装的湿气能力，待测产品被置于严苛的温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架的接口渗入封装体，常见的故障方式为主动金属化区域腐蚀造成的断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。

基于上述，本发明人发现，现有的PCT老化试验箱内部放置承载固定架不方便推入内部和拉动取出，且推拉过程中通过面接触摩擦力较大容易卡顿磨损损坏，同时放置承载固定架不方便半导体封装测试件的放置和取出。

于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种PCT老化试验箱，以期达到更具有更加实用价值性的目的。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种PCT老化试验箱，以解决现有的PCT老化试验箱内部放置承载固定架不方便推入内部和拉动取出，且推拉过程中通过面接触摩擦力较大容易卡顿磨损损坏，同时放置承载固定架不方便半导体封装测试件的放置和取出的问题。

本实用新型PCT老化试验箱的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种PCT老化试验箱，包括装置本体，所述装置本体底部设置有前后方向的承载推拉板，且承载推拉板左右两侧顶部和底部端面均通过螺钉固定安装有前后方向的限位固定板；所述限位固定板和承载推拉板之间均限位安装有五处前后有序排列的接触滚动球，且承载推拉板顶部端面限位安装有前后方向的承载放置架；所述承载放置架顶部内部插入安装有三处上下排列前后方向的放置承载板。

进一步的，所述承载推拉板前方端部开设有左右方向上下贯穿的条形孔，且承载推拉板顶部端面左右两侧均开设有前后方向的条形限位槽，承载推拉板内部开设有有序排列上下贯穿通过孔，承载推拉板左右两侧顶部和底部端面均开设有前后方向的契合槽，承载推拉板契合槽内部均开设有六处前后有序排列的螺纹盲孔，承载推拉板螺纹盲孔之间均开设有半球限位槽。

进一步的，所述限位固定板外侧端面开设有六处前后有序排列上下贯穿的阶梯孔，且限位固定板内侧端面阶梯孔之间均开设有上下贯穿的半球限位孔。

进一步的，所述承载放置架整体为H形结构，且承载放置架表面开设有有序排列的通过孔，承载放置架左右两侧立板顶部均开设有左右贯穿前后方向的条形槽，承载放置架左右两侧立板上部内侧端面均开设有三处上下排列前后方向的限位槽。

进一步的，所述放置承载板前后端部均开设有上下贯穿左右方向的条形孔，且放置承载板内部开设有有序排列上下贯穿的通过孔。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

承载推拉板的设置，方便承载放置架限位放置在顶部进行承载，方便限位安装在PCT老化试验箱腔内部导向槽中间进行推拉，方便通过接触滚动球与PCT老化试验箱腔内部导向槽接触减少摩擦力，解决了推拉过程中面接触摩擦力较大容易卡顿磨损损坏的问题。