[实用新型]一种非接触式位置检测装置有效
申请号: | 202120133501.2 | 申请日: | 2021-01-19 |
公开(公告)号: | CN214040062U | 公开(公告)日: | 2021-08-24 |
发明(设计)人: | 刁怀庆;薛山;冯超 | 申请(专利权)人: | 天津中科华誉科技有限公司 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00;F16H19/06 |
代理公司: | 北京头头知识产权代理有限公司 11729 | 代理人: | 白芳仿;刘锋 |
地址: | 300304 天津市东丽区华*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 接触 位置 检测 装置 | ||
1.一种非接触式位置检测装置,包括磁体组件和用于检测磁场变化并计算所述磁体组件旋转角度的检测组件,其特征在于:所述磁体组件包括可绕中心旋转的底座及固定设置在所述底座上表面的至少一个磁体组,每个所述磁体组包括两个相对于所述底座的中心位置对称的磁体(1),同组的两个所述磁体(1)在竖直方向上磁极相反设置。
2.根据权利要求1所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述磁体组件还包括与所述底座固定连接的固定附件(3),所述磁体(1)嵌入所述固定附件(3)内。
3.根据权利要求2所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述底座为磁屏蔽底座(2)。
4.根据权利要求3所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述检测组件扣设于所述磁体组件的上方,所述检测组件包括磁屏蔽罩(4)以及设置于所述磁屏蔽罩(4)内的检测芯片(5),所述检测芯片(5)位于所述底座的中心位置上方且高于所述磁体(1)的顶部,所述检测芯片(5)与所述底座同轴。
5.根据权利要求4所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述检测芯片(5)设置于检测电路板(6)上,所述检测电路板(6)水平安装于固定支架(7)上,所述固定支架(7)与所述磁屏蔽罩(4)固定连接。
6.根据权利要求1-5任一所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述磁体(1)为矩形磁体。
7.根据权利要求6所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述底座的上表面固定设置有一个所述磁体组。
8.根据权利要求7所述的非接触式位置检测装置,其特征在于:所述底座为圆形底座。
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