[实用新型]一种基于波导结构的介电常数测量装置有效

专利信息
申请号: 202120094708.3 申请日: 2021-01-14
公开(公告)号: CN214503755U 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 洪涛;种传印 申请(专利权)人: 西华师范大学
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 深圳市创富知识产权代理有限公司 44367 代理人: 王杯
地址: 637000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 波导 结构 介电常数 测量 装置
【说明书】:

本实用新型涉及微波测量技术领域,且公开了一种基于波导结构的介电常数测量装置,包括六端口反射计,所述六端口反射计的上表面固定安装有矩形波导,所述矩形波导的侧面固定安装有端口七。该实用新型,通过定向耦合器由两路微波传输线耦合组成,从主线输入的微波将有一定比例的微波被耦合到副线上,在矩形波导上开孔,小孔上边和上盖板之间放置长方体金属条,本项目设计六端口反射计时使用矩形波导,因此在矩形波导宽面上开孔,通过小孔将微波耦合到带状线,然后传输到带状线两端连接同轴线上,通过同轴线传输到功率计,这就构成波导—带状线—同轴线型定向定向耦合器,从而达到了大大降低了系统的复杂性和成本的目的。

技术领域

本实用新型涉及微波测量技术领域,具体为一种基于波导结构的介电常数测量装置。

背景技术

微波的应用主要在信息传递和微波能的应用,微波测量技术也是微波的主要应用之一,它是微波应用的基础和重要组成部分,电磁材料在民用、工业以及国防领域的应用中十分广泛,其电磁参数对器件的性能以及指标有着重要的影响,其中介电常数是电磁参数中最为重要的参数,因此测量材料的介电常数变得尤为重要,测量介电常数的方法众多,遍及了工业、民用以及国防的各个领域,目前在电磁理论和微波网络理论中,普遍采用散射参数来推导介电常数,散射参数的测量就需要微波测量来实现,这就需要更加先进的网络测量技术和测量仪器,1934年贝尔实验室首先开始了网络参量的测量研究并发明了一种传输参数的测量方法,它能够在示波器上显示出传输参数的极坐标图,此后微波测量技术不断革新,并分为传统微波测量和现代微波测量技术。

尽管介电常数测量方法多种多样,温度的变化势必影响的材料的介电特性,从而影响屏蔽罩上的天线的信息传输性能,给信号传输带来极大的干扰,但并非可以一劳永逸,生搬硬套,不同的系统,测量不同的材料,在不同的频率下选用的测量方法也不同,在大功微波下测量介电常数的方案较少,且一般造价昂贵,结构复杂,无法实现边加热边测量复介电常数实时测量功能,为此,本实用新型推出一种基于波导结构的介电常数测量装置。

实用新型内容

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种基于波导结构的介电常数测量装置,具备微波测量实现在大功率微波下测量材料的复介电常数,以便实现边加热边实时测量不同温度下材料的复介电常数,造价低,结构简单,精确度高,可适用固体、液体、气体多形态测量,采用双层抽真空硅管以及脊波导使加热更均匀,将计算机神经网络引入,提高计算精度降低计算难度的优点,解决了微波测量温度的变化势必影响的材料的介电特性,从而影响屏蔽罩上的天线的信息传输性能,给信号传输带来极大的干扰的问题。

本实用新型提供如下技术方案:一种基于波导结构的介电常数测量装置,包括反射计,所述反射计的上表面固定安装有矩形波导,所述矩形波导的侧面固定安装有端口一,所述矩形波导远离端口一的一端固定安装有端口二,所述矩形波导宽面安装波导-带状线-同轴线结构的定向耦合器,所述定向耦合器的上表面开设有端口四,所述端口四的一侧固定安装有同轴线,所述同轴线远离端口四的一端固定安装有功率计,所述矩形波导的侧面固定安装有探针,所述探针的上表面开设有端口三,所述探针远离端口三的一侧开设有端口五,所述探针远离端口五的一侧开设有端口六,所述反射计的一侧固定连接有脊波导,所述脊波导的一侧开设有连接块一,所述脊波导远离连接块一的一端开设有连接块二,所述脊波导的一侧固定安装有截止波导一,所脊波导远离截止波导一的一端固定安装有截止波导二。

优选的,所述脊波导的两侧为宽面和窄面,且脊波导的宽面有两个开孔,并安装了截止波导一,所述脊波导的窄面也有两个开孔并安装有截止波导二。

优选的,所述反射计和脊波导均为矩形设置,且反射计和脊波导通过连接块一和连接块二固定安装。

优选的,所述脊波导的宽面安装的截止波导一进可以对于温度进行测量,且脊波导的窄面安装的截止波导二对于材料的形态进行观察。

优选的,所述反射计的侧面与脊波导的侧面相切。

优选的,所述端口三、端口五和端口六三个端口组合为探针结构。

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