[发明专利]指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质

说明书

本申请涉及芯片存储技术领域。公开了一种指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质，该指令测试方法应用于存储芯片，该指令测试方法包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。通过上述的指令测试方法，能够测试出智能终端因执行延时指令而产生的异常行为及其延时时间，进而判断出测试指令的超时时间。

技术领域

本申请涉及芯片存储技术领域，特别是涉及一种指令测试方法、智能终端及其计算机可读存储介质。

背景技术

主机的命令中一般设置有执行超时时间，当命令的处理时间(即延时时间)达到设定的超时时间时，主机就会出现异常行为。基于此，现有技术中是通过检测主机产生异常行为及其时间节点，进而判断主机的命令中设定的超时时间。

在目前如eMMC固件等储存芯片的研发过程中，当需要其测试出主机(如台式计算机、智能手机或智能平板等)的命令超时时间时，一般测试的方式为更改存储芯片的固件，为该命令增加一定的延迟处理时间，并通过逻辑分析仪或协议分析仪来抓取主机在执行该命令时何时出现的异常行为，从而得到主机命令的超时时间。通过这种方式检测主机命令的超时时间过程比较繁琐，并且不能让储存芯片在正常使用过程中自动检测并记录主机的超时时间。

发明内容

为解决上述问题，本申请提供了一种指令测试方法，能够测试出智能终端因执行延时指令而产生的异常行为及其延时时间，进而判断出测试指令的超时时间。

本申请采用的一个技术方案是：提供一种指令检测方法，该指令测试方法应用于存储芯片，该方法包括：获取第一指令；其中，第一指令由一智能终端产生；对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令；基于第二指令对智能终端进行异常行为检测；响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。

其中，对第一指令进行延时处理，以得到延时后的第二指令，包括：初始化第一指令的延时时间为0；对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令。

其中，对第一指令进行至少一次递增延时处理，以得到对应次数延时后的第二指令包括：对第一指令递增至少一次一预设延时时间，以得到对应次数延时后的第二指令；其中，响应于第一指令每递增一次预设延时时间，基于第二指令对智能终端进行一次异常行为检测并记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间。

其中，基于第二指令对智能终端进行异常行为检测，包括：将第二指令返回至智能终端，以使智能终端执行第二指令；基于智能终端执行第二指令，对智能终端进行异常行为检测。

其中，响应于智能终端出现异常行为，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间，包括：响应于智能终端出现异常行为且第二指令的延时时间不大于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测；记录当前第一指令、第二指令及其相应的延时时间。

其中，该方法还包括：响应于智能终端未出现异常行为且第二指令的延时时间等于最大延时时间，停止对第一指令进行延时处理以及停止对智能终端进行异常行为检测；记录第一指令、当前第二指令及其相应的延时时间。

其中，记录第一指令、第二指令及其相应的延时时间，包括：将当前第一指令、第二指令及其相应的延时时间记录在一数据表中；其中，响应于每对智能终端进行一次异常行为检测，在数据表中记录一次第一指令、第二指令及其相应的延时时间。

其中，该方法还包括：获取数据读取指令；其中，数据读取指令由智能终端产生；根据数据读取指令，将数据表中的当前记录数据返回至智能终端。