[发明专利]一种实现追溯性印章镭射方法

说明书

本发明公开了一种实现追溯性印章镭射方法，该方法快速找出产品的具体位置及晶圆的坐标信息等，达到晶圆追溯的目的。在追溯系统建立查询界面，通过输入印章内容，即可从追溯系统查询到产品的相关信息，从而追溯到晶圆信息，实现单颗追溯性，对于产品失效等分析调查提供便利快捷条件。

技术领域

本发明属于半导体封装技术领域，具体涉及一种实现追溯性印章镭射方法。

背景技术

镭射刻印为常见的防伪方法，镭射刻印技术，镭射利用较高能量的激光束，通过光学聚焦镜使印章聚焦后标刻在被加工电路的表面上的刻印技术，刻印产品表面印字能长久保持，不会随着观察角度或环境温度的变化而不同的。

现在刻印过程中，产品的印章可进行整批次或多批次刻印同一个印章内容，也可做每一颗单颗刻印一个印章内容，但刻印在产品的上印章的内容未与整个追溯系统做连接绑定，一旦发现刻印产品出现质量问题时，无法通过印章内容查询追溯到每颗产品的具体作业机台或芯片坐标等信息，出现异常或需要追溯分析时困难大，难以找到相关出问题的材料或设备等，带来较大的损失和影响。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种实现追溯性印章镭射方法，以解决现有技术中产品信息难以追溯的问题。

为达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以实现：

一种实现追溯性印章镭射方法，包括以下步骤：

步骤1，为每一个单颗的刻印产品建立唯一的序列号，所述序列号关联有单颗的刻印产品的追溯信息；

步骤2，将刻印产品的序列号和刻印产品的二维码相关联；

步骤3，通过输入刻印产品的序列号，获得单颗的刻印产品的追溯信息。

本发明的进一步改进在于：

优选的，步骤1中，所述追溯信息包括刻印产品的位置信息、物料信息和晶圆信息。

优选的，步骤1中，所有的单颗刻印产品被刻印时，呈规则排列形式。

优选的，步骤1中，将序列号及刻印产品的追溯信息建立至系统中。

优选的，步骤2中刻印产品的序列号和刻印产品的二维码关联前，对刻印系统中的镭射软件升级。

优选的，步骤2中，关联后，将刻印产品的序列号打标在每颗产品上。

优选的，步骤3中，在追溯系统中建立查询界面，通过查询界面进行查询。

优选的，步骤3中，通过对刻印产品的二维码扫码，获得单颗的刻印产品的序列号。

优选的，步骤3中，还能够获得刻印产品的工单、工卡和条带号。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明公开了一种实现追溯性印章镭射方法，该方法快速找出产品的具体位置及晶圆的坐标信息，达到产品信息追溯的目的。在追溯系统建立查询界面，通过输入印章内容，即可从追溯系统查询到产品的相关信息，从而追溯到产品信息，实现单颗追溯性，对于产品失效等分析调查提供便利快捷条件。

进一步的，追溯系统信息中包括一系列的制造过程的信息，还能够包括其他的相关信息，具体由工作人员设定。

进一步的，单颗刻印产品在刻印过程中，排列规则，使得对每个产品编序号时，能够有序的递增。

进一步的，将序列号和刻印产品的追溯信息建立到系统中，方便查验。

进一步的，对镭射软件的升级，是满足刻印需求。

进一步的，将刻印产品的序列号打标在每颗产品上，方便查验。

附图说明