[发明专利]一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法

说明书

本发明公开的属于固态硬盘的掉电测试技术领域，具体为一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法，包括测试箱，所述测试箱的顶端设有箱盖，所述箱盖的左端内壁开设有通孔，所述测试箱的左端内壁设有终端，所述测试箱上安装有掉电控制组件，且掉电控制组件可与终端断开连接，所述测试箱的右端内壁设有电压控制组件，且电压控制组件与掉电控制组件相连接，所述箱盖上设有温度调节结构，所述温度调节结构包括降温组件、输送组件和加热组件，所述测试箱的左侧安装降温组件，所述箱盖的顶端安装输送组件，本发明通过温度调节结构和电压控制组件具有模拟出固态硬盘在使用时的环境，从而会提高测试的准确性。

技术领域

本发明涉及固态硬盘的掉电测试技术领域，具体为一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法。

背景技术

SSD掉电分为两种，一种是正常掉电，另一种是异常掉电。正常掉电是指在掉电前，主机会通过命令通知SSD，比如串行高级技术附件中的Idle Immediately，SSD收到该命令后，会将SSD的动态随机存取存储器中的数据写入SSD的闪存；其中，DRAM中的数据例如可以是DRAM中的buffer中缓存的数据、映射表、闪存的块信息、其他信息等。主机等SSD将DRAM中的数据写入SSD的闪存后，才会真正停止对SSD的供电。正常掉电不会导致数据的丢失，重新上电后，SSD只需把掉电前写入闪存的数据重新加载到DRAM中，又能接着掉电前的状态继续工作。异常掉电是指SSD在没有收到主机的掉电通知时就被断电；或者收到主机的掉电通知后还没来得及将DRAM中的数据写入SSD的闪存就被断电了。异常掉电可能会导致数据的丢失，比如DRAM中的数据来不及写入闪存，掉电导致这部分数据丢失，还有根据闪存特性，如果掉电发生在写多层单元，会导致其对应的下页数据遭到破坏，也就意味着之前写入闪存的数据也可能由于异常掉电导致丢失。SSD掉电是SSD测试工作中的一个重要环节，根据SSD掉电的测试结果可以判断SSD是否正常，因此对SSD掉电的测试至关重要。

现有的固态硬盘的异常掉电测试设备并不能模拟固态硬盘在使用时的环境，从而会降低测试的准确性，为此，我们提出一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法。

发明内容

鉴于上述和/或现有一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法中存在的问题，提出了本发明。

因此，本发明的目的是提供一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备及方法，能够解决上述提出现有的问题。

为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，本发明提供了如下技术方案：

一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备，其包括测试箱，所述测试箱的顶端设有箱盖，所述箱盖的左端内壁开设有通孔，所述测试箱的左端内壁设有终端，所述测试箱上安装有掉电控制组件，且掉电控制组件可与终端断开连接，所述测试箱的右端内壁设有电压控制组件，且电压控制组件与掉电控制组件相连接，所述箱盖上设有温度调节结构；

所述温度调节结构包括降温组件、输送组件和加热组件，所述测试箱的左侧安装降温组件，所述箱盖的顶端安装输送组件，所述箱盖的内壁安装加热组件，所述降温组件的一端连接输送组件，所述输送组件的一端分别连接加热组件和掉电控制组件。

作为本发明所述的一种特殊固态硬盘的异常掉电测试设备的一种优选方案，其中：所述终端的一端电性连接第一导电板，所述测试箱的内壁固定安装固定板，所述固定板的顶端内壁固定安装第一导电板，所述终端中设有固态硬盘。